特許
J-GLOBAL ID：200903041350226471

半導体試験システム

発明者：
杉村 一

杉村 一 について


出願人/特許権者：
株式会社アドバンテスト

株式会社アドバンテスト について


代理人 (1件)： 雨貝 正彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-340113
公開番号（公開出願番号）：特開2001-154865
出願日： 1999年11月30日
公開日（公表日）： 2001年06月08日
要約：
【要約】【課題】 テスト・プログラム作成用言語を用いて作成されたテスト・プログラムに含まれる汎用関数を、その汎用関数の汎用引数について特別な準備をすることなく呼び出すことができる半導体試験システムを提供する。【解決手段】 半導体デバイスDUTを試験する半導体試験装置2の動作を規定するテスト・プログラムは、テスト・プログラム作成用言語で作成されている。テスト・プログラムは、テスト・プログラム作成用言語が備えていない関数であって、汎用関数が備えている関数を呼び出すべく、スタック部50に汎用関数を指定し、汎用引数を待避させる。CPU10は、汎用引数を、汎用関数を実行させるために必要な規則に従って引数記憶部40に格納しておき、汎用関数を呼び出すときに、規則に従って格納されている汎用引数を、引数記憶部40からスタック部50に待避させる。
請求項（抜粋）：
半導体デバイスの試験用のテスト・プログラムを作成するために用いられるテスト・プログラム作成用言語で記述され、前記テスト・プログラム作成用言語が備える第1の関数を実行し、かつ前記テスト・プログラム作成用言語以外の他言語が備える第2の関数を呼び出すテスト・プログラムに従って半導体デバイスを試験する半導体試験システムにおいて、前記第1の関数の引数として用いられる第1のデータ、及び前記第2の関数の引数として用いられる第2のデータが格納される引数記憶部と、前記テスト・プログラムを実行して前記第2の関数を呼び出すときに、前記テスト・プログラム作成用言語の処理系から前記他言語の処理系へ前記第2のデータを受け渡すために、前記第2のデータが一時的に格納される一時記憶部と、前記第1のデータとして用いられるとともに前記第2のデータとしても用いられる重複データを、前記第2の関数を実行するために遵守すべき規則に従って前記引数記憶部の所定アドレスに格納するとともに、前記テスト・プログラムを実行して前記第2の関数を呼び出すときに、前記引数記憶部の前記所定アドレスに格納された前記重複データを前記規則に従って読み出して前記一時記憶部に一時的に格納する制御部と、を備えることを特徴とする半導体試験システム。
IPC (2件)：
G06F 11/22 310 ,  G01R 31/3183
FI (2件)：
G06F 11/22 310 A ,  G01R 31/28 Q
Fターム (4件)：
2G032AA07 ,  2G032AE12 ,  5B048AA20 ,  5B048DD03
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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