特許

J-GLOBAL ID：200903041368037552

電気光学装置及びその製造方法並びに電気光学装置のダミー電極検査方法

発明者： 小林 由文
出願人/特許権者： セイコーエプソン株式会社
代理人 (1件)： 鈴木 喜三郎 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-273117
公開番号（公開出願番号）：特開2001-100234
出願日： 1999年09月27日
公開日（公表日）： 2001年04月13日
要約：

【要約】【課題】 電気光学装置におけるダミー電極パターンに起因する製品不良や製品品位低下を抑制することのできる構造及び製造方法並びに検査方法を提供する。【解決手段】 母基板40上に形成された配線42と対向する母基板30の表面上に、ダミー電極パターン35が形成されている。ダミー電極パターン35内には、複数の屈曲した形状のダミーパターン部35aが並列している。ダミーパターン部35aには、液晶封入領域130Aの外へ伸び、さらに上記パネル予定領域130の外側にまで伸びる、配列された延長パターン部35bが一体に形成されている。この延長パターン部35bはパネル予定領域130の外側へ向けて伸びるに従って次第にその配列を変化させ、先端に検査端子部35cが形成されている。

請求項（抜粋）：

第1基板と第2基板の間に電気光学物質を配置してなり、前記第1基板の表面上に複数の第1電極及び第1配線を備え、前記第2基板における前記第1基板に対向する表面上に複数の第2電極及び第2配線を備えた電気光学装置であって、前記第1基板と前記第2基板のうち少なくとも一方の基板の表面上における、前記第1電極及び前記第1配線又は前記第2電極及び前記第2配線の形成されていない領域に、他方の基板上における複数の前記第2電極若しくは前記第2配線又は前記第1電極若しくは前記第1配線に対向する複数のダミーパターン部を有するダミー電極パターンが設けられており、前記ダミーパターン部にはそれぞれ検査用端子部が設けられ、該検査用端子部が所定領域内に配列されていることを特徴とする電気光学装置。

IPC (5件)：

G02F 1/1345 ,  G01R 31/02 ,  G02F 1/13 101 ,  G02F 1/1343 ,  G09F 9/30 330

FI (5件)：

G02F 1/1345 ,  G01R 31/02 ,  G02F 1/13 101 ,  G02F 1/1343 ,  G09F 9/30 330 A

Fターム (42件)：

2G014AA03 ,  2G014AA25 ,  2G014AB21 ,  2G014AB55 ,  2G014AC09 ,  2H088EA03 ,  2H088FA06 ,  2H088FA10 ,  2H088FA13 ,  2H088FA14 ,  2H088FA16 ,  2H088FA18 ,  2H088FA30 ,  2H088HA06 ,  2H088MA16 ,  2H092GA05 ,  2H092GA33 ,  2H092GA57 ,  2H092GA61 ,  2H092JB77 ,  2H092MA57 ,  2H092NA25 ,  2H092NA27 ,  2H092NA29 ,  2H092PA06 ,  5C094AA09 ,  5C094AA42 ,  5C094AA43 ,  5C094AA48 ,  5C094BA43 ,  5C094CA19 ,  5C094DA12 ,  5C094DB01 ,  5C094DB10 ,  5C094EA01 ,  5C094EA03 ,  5C094EA04 ,  5C094EB02 ,  5C094FA01 ,  5C094FB12 ,  5C094GB01 ,  5C094GB10

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 液晶表示装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-219642   出願人：シチズン時計株式会社
• 液晶表示素子
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-264531   出願人：松下電器産業株式会社
• 液晶表示装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-303089   出願人：株式会社日立製作所, 日立デバイスエンジニアリング株式会社