特許
J-GLOBAL ID:200903041650645107

特性評価試験機

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-016207
公開番号(公開出願番号):特開2003-215011
出願日: 2002年01月24日
公開日(公表日): 2003年07月30日
要約:
【要約】【課題】 試験片の特性解析をし易い特性評価試験機とする。【解決手段】 第1試験片2aをプローブ4に固定し、第1試験片2aに第2試験片を接触させた状態で基台3を摺動させる。そして、前記両試験片2a,2bの接触面をCCDカメラ10により撮像してメモリ35に記憶させる。また、摺動時におけるプローブ4に作用する荷重を荷重センサ21により検出し、基台3の加速度や振動状態を加速度センサ22により検出すると共に、基台3の作動抵抗をロードセル23により検出し、これらの計測されたデータもメモリ上に記憶させる。そして、メモリ35に記憶された計測データおよびCCDカメラ10による画像データをディスプレィ上に関連づけて表示させる構成とした。
請求項(抜粋):
第1試験片が固定される固定部材と、前記第1試験片に第2試験片を接触させた状態で、前記固定部材に対して少なくとも一方向に摺動する基台と、前記両試験片の接触面を撮像する撮像手段と、前記基台上に設けられ、前記基台の動作状態を検出する検出手段と、該検出手段からの情報を基に、摺動により得られる前記両試験片の特性における物理量を監視する監視手段とを備えた特性評価試験機において、前記撮像手段から得られる情報と前記検出手段から検出される物理量を同期させて状態メモリに記憶させ、該状態メモリに記憶させた前記情報と前記物理量とを関連させて表示手段に表示を行う特性解析手段を備えたことを特徴とする特性評価試験機。
引用特許:
審査官引用 (4件)
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