きずの非破壊検査方法および非破壊検査装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：小林英一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-284224
公開番号（公開出願番号）：特開2005-208039
出願日： 2004年09月29日
公開日（公表日）： 2005年08月04日
要約：

【課題】きずの位置や、寸法、形状、傾きといった三次元形状を簡便でかつ精度よく測定できる、きずの非破壊検査方法および非破壊検査装置を提案する。【解決手段】被測定物表面に複数の電位差測定用端子をマトリックス状に所定の間隔で離隔して配置し、該複数の電位差測定用端子を挟んで設けられた一対の電極を介して該被測定物表面に電流を供給しながら、各電位差測定用端子間に生じる電位差または電位差変化率を測定し、測定領域における電位差分布または電位差変化率分布を求め、予め関連づけられた電位差分布または電位差変化率分布ときずの寸法形状との関係を参照して、被測定物に含まれるきずの位置および寸法形状、さらには該きずの進展状況を検知する。【選択図】図5

請求項（抜粋）：

電源と、該電源に接続され該電源から被測定物に電流を印加する一対の電極と、前記一対の電極間に、所定の間隔で離隔されてマトリックス状に配置される複数の電位差測定用端子と、該複数の電位差測定用端子の各々に接続可能に配設され、各電位差測定用端子間の電位差を測定する電位差測定手段と、該電位差測定手段で測定した各電位差測定用端子間の電位差を入力データとして演算し、きずの位置、寸法形状を算出する演算手段と、前記入力データおよび演算結果を保存するデータ保存手段と、を有することを特徴とする、きずの非破壊検査装置。

IPC (5件)：

G01N27/20 , G01B7/00 , G01B7/02 , G01B7/28 , G01B7/34

FI (5件)：

G01N27/20 Z , G01B7/00 B , G01B7/02 Z , G01B7/28 A , G01B7/34 A

Fターム (23件)：

2F063AA01 , 2F063AA11 , 2F063AA41 , 2F063DA02 , 2F063DA05 , 2F063DD07 , 2F063FA00 , 2F063LA12 , 2F063LA29 , 2G060AA10 , 2G060AE01 , 2G060AF15 , 2G060AG04 , 2G060AG13 , 2G060AG15 , 2G060EA01 , 2G060EA03 , 2G060EA04 , 2G060EA06 , 2G060EB05 , 2G060EB06 , 2G060KA11 , 2G060KA13

引用特許：

出願人引用 (1件)

特許第3167449号公報

審査官引用 (10件)

特開昭63-132151
特開昭63-101742
特開昭61-234346

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