特許
J-GLOBAL ID：200903041714046563
電気検査用コンタクトプローブ及び検査システム
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
竹内 守
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-020173
公開番号（公開出願番号）：特開平11-201989
出願日： 1998年01月19日
公開日（公表日）： 1999年07月30日
要約：
【要約】 (修正有)【課題】 位置合わせの自由度を向上し、試験装置への結線パターンを変化させることができるようにし、自動化もできるようにする。【解決手段】 同一面上に一定のピッチで配置された複数の電極を備えた電子機器やフレキシブルフラットケーブルの電気検査を行なうのに、この被検物に試験装置を接続するために用いられる試験装置側リード線の端子のコンタクトプローブ1の電極6を、被検物側の電極ピッチの整数分の1あるいは複数種類の異なる端子の電極ピッチの最小公倍数分の1になるよう形成して電極数を多くし、被検物側の個々の各電極に試験装置側のコンタクトプローブのそれぞれ複数の電極が接触できるように電極8を設けたコンタクトプローブとする。そして試験装置側のリード線に制御部を設けて、スキャンニングによるリレーの切替えによって試験装置への結線パターンを変えることができるようにする。
請求項（抜粋）：
弾力性を有する保持体の側周に、細ピッチフレキシブルプリント回路をU字状に巻き掛けて作成してなるコンタクトプローブであって、該フレキシブルプリント回路の導体端子ピッチを被測定物である電子機器の導体端子ピッチの整数分の1あるいは最小公倍数分の1になるようにし、フレキシブルプリント回路の導体端子1本に対して被測定物である電子機器の導体端子が数本接触するように構成されていることを特徴とする電気検査用コンタクトプローブ。
IPC (3件)：
G01R 1/073
, G01R 31/28
, H05K 3/00
G01R 1/073 D
, H05K 3/00 T
, G01R 31/28 K
