特許
J-GLOBAL ID：200903041743154820
変形特性を測定する方法及びそのための装置
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-281251
公開番号（公開出願番号）：特開2008-096377
出願日： 2006年10月16日
公開日（公表日）： 2008年04月24日
要約：
【課題】小型模型化した供試体に荷重を付加したときの変形特性を、材料の実際状況に即した形で、かつ簡易な装置により、的確に評価する。【解決手段】供試体の周方向で供試体の中心軸に対し垂直な面内において中心軸から等距離で相互に等間隔の位置において複数台の撮像装置をそれぞれ3次元座標の原点に撮像光軸を向けて配置し、供試体に中心軸方向の荷重を付加していない状態と付加した状態とにおいて複数台の撮像装置により供試体を同期して撮像し、撮像装置で得られた各画像における供試体周面の標点の画像座標を求め、撮像装置で得られた各画像のうち隣接する2台の撮像装置による画像を1組の左右画像としてこの左右画像における供試体の標点の画像座標から標点の3次元座標を求め、これを隣接する2台の撮像装置の全ての組み合わせについて行って、求められた全ての標点の3次元座標の変化量から供試体の変形特性を求める。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
周面に標点を有するかまたは標点が付与されている供試体について荷重を付加していない状態及び荷重を付加した状態で撮像した画像を画像処理することにより供試体の変形特性を測定する方法であって、
3次元座標の原点を規定することと、
前記供試体を中心軸方向の上下端側で前記供試体の中心軸方向に荷重を付加し得るように前記供試体を支持することと、
前記供試体の周方向で前記供試体の中心軸に対し垂直な面内において中心軸から等距離で相互に等間隔の位置において1台ずつ計N台の撮像装置をそれぞれ前記3次元座標の原点に撮像光軸を向けて配置することと、
前記撮像装置における基準点の位置を測定することと、
前記供試体に中心軸方向の荷重を付加していない状態及び付加した状態において前記N台の撮像装置により前記供試体を撮像することと、
前記N台の撮像装置で得られた各画像における前記供試体の標点の画像座標を求めることと、
前記N台の撮像装置で得られた各画像のうち隣接する2台の撮像装置による画像を1組の左右画像とし該1組の左右画像における前記供試体の標点の画像座標から該標点の3次元座標を求めることを前記隣接する2台の撮像装置の全ての組み合わせについて行って前記供試体の周面の全ての標点の3次元座標を前記供試体に中心軸方向の荷重を付加していない状態及び付加した状態の各段階について求めることと、
求められた前記全ての標点の3次元座標の変化量から前記供試体の変形特性を求めることと、
からなることを特徴とする変形特性を測定する方法。
IPC (3件)：
G01N 3/08
, G01N 3/00
, G01B 11/16
G01N3/08
, G01N3/00 E
, G01B11/16 H
2F065AA04
, 2F065AA65
, 2F065BB06
, 2F065BB27
, 2F065FF05
, 2F065JJ03
, 2F065JJ05
, 2F065JJ26
, 2F065QQ18
, 2F065QQ31
, 2G061AA02
, 2G061AA03
, 2G061AB01
, 2G061CA06
, 2G061CB02
, 2G061EA02
, 2G061EA04
, 2G061EB07
, 2G061EC02
, 2G061EC05
