特許
J-GLOBAL ID：200903041921319626
流速測定方法及び装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
佐々木 宗治 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-255861
公開番号（公開出願番号）：特開平10-104038
出願日： 1996年09月27日
公開日（公表日）： 1998年04月24日
要約：
【要約】【課題】 移動する導電性の測定対象体(例えば高温液体金属)の流速を、温度ドリフトの影響やリフトオフ変動の影響を低減して測定することができる流速測定方法及び装置。【解決手段】 移動する導電性の測定対象物体4の上に、その対象面に対しほぼ垂直に磁場を励磁し(励磁巻線1)、前記対象面及び測定対象体の移動方向とほぼ平行な方向の磁場を検出し(検出巻線S)、その検出した磁場信号から前記測定対象体4の流速を算出することを特徴とする流速測定方法及び装置。
請求項（抜粋）：
移動する導電性の測定対象物体の上に、その対象面に対しほぼ垂直に磁場を励磁し、前記対象面及び測定対象体の移動方向とほぼ平行な方向の磁場を検出し、その検出した磁場信号から前記測定対象体の流速を算出することを特徴とする流速測定方法。
IPC (3件)：
G01F 1/58
, B22D 11/16 104
, G01P 5/08
G01F 1/58 Z
, B22D 11/16 104 D
, G01P 5/08 B
