特許
J-GLOBAL ID:200903042076180598
半導体放射線検出器
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
多田 公子 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-039480
公開番号(公開出願番号):特開2000-241555
出願日: 1999年02月18日
公開日(公表日): 2000年09月08日
要約:
【要約】【課題】高いエネルギー分解能と検出感度を有し、放射線のエネルギースペクトル解析やガンマカメラなどの画像検出器に好適な半導体放射線検出器を提供する。【解決手段】比較的高いエネルギー分解能を発揮することのできる半導体放射線検出器の単位1000-1、1000-2を、陰極103どうし或いは電荷収集電極104どうしが重なるように複数に積層するとともに、各検出器単位の陰極103と電荷収集電極104を電気的に並列接続する。積層数分厚さが増大することにより検出感度を高めることができ、しかも厚さ増加によるエネルギー分解能低下を最小限に抑えることができる。この半導体放射線検出器は、単独の検出器にも単独の検出器を2次元配列した2次元検出器にも適用できる。
請求項(抜粋):
放射線の照射により電荷を生成する半導体結晶と、結晶の第1の面に設けられた陰極と、前記結晶の第2の面に設けられた電荷収集電極と、これら陰極及び電荷収集極の間にバイアス電圧を印加する手段とを備えた半導体放射線検出器単位を複数積層し、各陰極及び電荷収集電極をそれぞれ電気的に並列接続したことを特徴とする半導体放射線検出器。
Fターム (11件):
2G088FF02
, 2G088FF03
, 2G088FF04
, 2G088FF15
, 2G088GG21
, 2G088JJ01
, 2G088JJ05
, 2G088JJ09
, 2G088JJ32
, 2G088JJ33
, 2G088JJ37
引用特許:
審査官引用 (7件)
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半導体射線検出器
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-010378
出願人:日立化成工業株式会社
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特開昭63-182870
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特開昭60-135883
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広域型放射線検出器
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-231423
出願人:三菱電機株式会社
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特開平4-303787
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半導体放射線検出素子
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-079584
出願人:株式会社日立製作所
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特開昭57-190282
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