特許
J-GLOBAL ID:200903042288382395
スパッタリングターゲットおよびその製造方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
波多野 久 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-109929
公開番号(公開出願番号):特開2001-295035
出願日: 2000年04月11日
公開日(公表日): 2001年10月26日
要約:
【要約】【課題】結晶組織が微細でありスパッタリング時におけるパーティクルの発生を低減でき、しかも高密度なスパッタリングターゲットおよびその製造方法を提供する。【解決手段】W,Mo,Nb,TaおよびRuの少なくとも1種の高融点金属を主成分として95重量%以上含有するスパッタリングターゲットであり、ターゲット組織に一辺が50μmの正方形状の測定領域を設定した場合に、上記測定領域に含まれる結晶粒内において発生したバブルの面積割合が15%以下であることを特徴とするスパッタリングターゲットである。
請求項(抜粋):
W,Mo,Nb,TaおよびRuの少なくとも1種の高融点金属を主成分として95重量%以上含有するスパッタリングターゲットであり、ターゲット組織に一辺が50μmの正方形状の測定領域を設定した場合に、上記測定領域に含まれる結晶粒内において発生したバブルの面積割合が15%以下であることを特徴とするスパッタリングターゲット。
IPC (4件):
C23C 14/34
, H01L 21/203
, H01L 21/285
, H01L 21/285 301
FI (4件):
C23C 14/34 A
, H01L 21/203 S
, H01L 21/285 S
, H01L 21/285 301 R
Fターム (21件):
4K029BA02
, 4K029BA11
, 4K029BA16
, 4K029BA21
, 4K029BD02
, 4K029CA05
, 4K029DC03
, 4K029DC04
, 4K029DC09
, 4M104BB04
, 4M104BB13
, 4M104BB16
, 4M104BB17
, 4M104BB18
, 4M104DD40
, 4M104HH20
, 5F103AA08
, 5F103BB22
, 5F103DD28
, 5F103RR02
, 5F103RR05
引用特許:
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