特許

J-GLOBAL ID：200903042334561143

口臭検査装置

発明者： 伊藤 雄介 ,  小泉 邦善 ,  片山 仁 ,  松本 隆
出願人/特許権者： 株式会社タニタ ,  エフアイエス株式会社
代理人 (1件)： 西川 惠清 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-155811
公開番号（公開出願番号）：特開2001-333925
出願日： 2000年05月26日
公開日（公表日）： 2001年12月04日
要約：

【要約】【課題】ガスセンサへの呼気の吹きかけ時間のばらつきを抑えて正確な検査が行える口臭検査装置を提供する。【解決手段】圧電ブザーBZと抵抗R7の並列回路が電池電源1の+極とマイコン5の出力ポートP18に接続されており、マイコン5が出力ポートP18をローレベルとすることで電池電源1から通電されて圧電ブザーBZが鳴動するようになっている。また、マイコン5は電源スイッチSWが操作された時点t1からガスセンサ3が所定温度まで加熱される時間を含むウォーミングアップ時間の終了時点に圧電ブザーBZを鳴動させる。而して、測定に充分な呼気がガスセンサ3に吹きかけられたことを圧電ブザーBZを鳴動させて音で報知させているので、吹きかけ時間のばらつきを抑えて正確な検査が行える。

請求項（抜粋）：

口臭要因ガスの吸着によって抵抗値が変化する金属酸化物半導体で形成された感ガス体を有するガスセンサと、ガスセンサを駆動し感ガス体の抵抗値変化に基づいて呼気中に含まれる口臭要因ガスの濃度を測定する駆動測定手段と、駆動測定手段での測定濃度に応じた口臭強度の検査結果を表示する表示手段と、少なくとも測定に充分な呼気がガスセンサに吹きかけられたことを音で報知する報知手段とを備えたことを特徴とする口臭検査装置。

IPC (2件)：

A61C 19/04 ,  G01N 33/497

FI (2件)：

G01N 33/497 A ,  A61C 19/04 Z

Fターム (6件)：

2G045AA33 ,  2G045CB22 ,  2G045FA34 ,  2G045GC30 ,  2G045JA07 ,  4C052NN01

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開昭62-299751
  
• 呼気採取分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-141089   出願人：スズキ株式会社
• 特開昭64-035368
  
• 特開昭58-208651