特許

J-GLOBAL ID：200903042367217642

多段階質量分析実施能力をもつ3連四重極子質量分析計

発明者： ヘイガー,ジェイムズ ダブリュ
出願人/特許権者： エムディーエス インコーポレイテッド ドゥーイング ビジネス アズ エムディーエス サイエックス
代理人 (2件)： 柳田 征史 ,  佐久間 剛
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-514755
公開番号（公開出願番号）：特表2004-504622
出願日： 2001年06月26日
公開日（公表日）： 2004年02月12日
要約：

物質をイオン化して連続イオン列を形成する段階を含む、物質を分析する方法。イオンは次いで第1の質量分析段階にかけられる。一実施形態において、イオンは、一次フラグメントイオンを形成するために、既知の態様で加速されて衝突セルに送り込まれる。これらの一次フラグメントイオンは次いで、二次フラグメンテーションを促進するために、加速されて下流の質量分析器に送り込まれる。発明の別の実施形態において、イオンは、フラグメンテーションをおこさずに、衝突セルを通過し、次いで衝突セルから、加速されて、質量分析器またはイオンを集めてコリメートするためのロッドセットとすることができる低圧区画に送り込まれる。これは、フラグメンテーションを促進する条件の下でなされる。低圧区画の動作条件は、イオンの質量に依存するイオンの収集または保持を促進するような、さらに詳しくは、低質量イオンを排除するような、条件とすることができる。これにより、一次フラグメントイオンを冷却し、引き続いて、一次フラグメントイオンがある程度のエネルギーを散逸した後に一次フラグメントイオンから二次フラグメントイオンを形成することが可能になる。よって、二次フラグメンテーション過程の制御が可能になり、複雑なイオンを分析するための数多くの機会が提供される。

請求項（抜粋）：

物質を分析する方法において、前記方法が: (1)前記物質をイオン化して、イオン流を形成するステップ; (2)前記イオン流を第1の質量分析にかけて、親イオンとして、所望の質量対電荷比を有するイオンを選択するステップ; (3)前記親イオンを衝突セル内に導入して、前記親イオンのフラグメンテーションを促進し、よって一次フラグメントイオンを生成するステップ; (4)前記衝突セルにおいて、所望の質量対電荷比を有する一次フラグメントイオンを選択し、その他のイオンを排除するステップ; (5)前記衝突セルから、前記選択された一次フラグメントイオンを加速して、下流の質量分析器に送り込んで、二次フラグメンテーションを促進し、よって二次フラグメントイオンを生成するステップ;及び (6)前記二次フラグメントイオンを質量分析して、質量スペクトルを生成するステップ; を含むことを特徴とする方法。

IPC (2件)：

G01N27/62 ,  H01J49/42

FI (4件)：

G01N27/62 B ,  G01N27/62 K ,  G01N27/62 L ,  H01J49/42

Fターム (3件)：

5C038JJ06 ,  5C038JJ07 ,  5C038JJ11

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開平1-213950
  
• 軸電界を有する分光計
  公報種別：公表公報   出願番号：特願平9-508772   出願人：エムディーエスヘルスグループリミテッド