特許
J-GLOBAL ID：200903042400890307
軸電界を有する分光計
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
柳田 征史 (外1名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-508772
公開番号（公開出願番号）：特表平11-510946
出願日： 1996年08月09日
公開日（公表日）： 1999年09月21日
要約：
【要約】質量分析計では、一般的には四重極、すなわちロッドセットの中の1つは、それの上に軸電界、例えばDC軸電界を形成するように構成されている。この軸電界は、ロッドを先細りにするか、あるいは互いに対して数度の角度でロッドを配置するか、あるいはロッドをセグメント化するか、あるいはロッドの周りにセグメント化ケースを提供するか、あるいは抵抗被覆あるいはセグメント化された補助ロッドを提供するか、あるいはバンド間の抵抗性被覆を有する各ロッドに沿って離隔された1組の導電性金属バンドを提供するか、あるいは抵抗性外部被覆および導電性内部被覆を有するチューブとして各ロッドを形成するか、あるいは他の適当な方法、によって作成することができる。軸電界を縦に並んだ四重極セットのQ0に印加する場合、軸電界は、Q0を通るイオンの通過の速度を速め、Q1で低質量から高質量にジャンプする場合にQ0をイオンで補充する必要性により引き起こされる遅延を減少する。衝突セルQ2として使用されるとき、軸電界は、Q2から排出するために娘イオンに必要な遅延を減少する。この軸電界は、衝突ガスに対してイオンを前方に駆動するかあるいは衝突セル内部で軸方向にイオンを振動させるかのいずれかによってQ2のイオンを分離するのに役立たせるためにも使用できる。
請求項（抜粋）：
分光計において、 (a)それとの間に細長い容積を規定する細長い部材セットであって、前記容積が縦軸を有すること、 (b)前記細長い部材にRF電圧を印加し、前記部材のために前記軸に沿って前記容積を通ってイオンを伝達する手段、および (c)前記部材に沿って延び、前記軸の少なくとも一部に沿って軸電界を確立する手段であることを特徴とする分光計。
IPC (2件)：
FI (2件)：
H01J 49/42
, G01N 27/62 K
