特許
J-GLOBAL ID：200903042376316610
階調特性測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
山田 正紀 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-272558
公開番号（公開出願番号）：特開平8-137239
出願日： 1994年11月07日
公開日（公表日）： 1996年05月31日
要約：
【要約】【目的】本発明は、例えば複写機、レーザプリンタ等電子写真方式の画像形成装置における、感光体上に形成された複数の基準パターン現像像の濃度を検出しそれらの濃度に基づいて階調特性を求める階調特性測定装置に関し、特に、極ハイライト領域の階調特性を高精度に測定する。【構成】記録媒体上には現われないような低濃度(低網点面積率)の基準パターン、典型的には濃度0(網点面積率0%)を目指した基準パターンを感光体上に形成してその濃度を測定し、階調特性を求める基礎として用いる。
請求項（抜粋）：
感光体と、該感光体上に静電潜像を形成する静電潜像形成手段と、該感光体上に形成された静電潜像を現像することにより該感光体上に現像像を形成する現像手段と、該感光体上の現像像を記録媒体上に転写する転写手段とを備えた画像形成装置における、互いに濃度の異なる複数の基準パターンに対応する複数の基準パターン信号を生成して、前記静電潜像形成手段に、前記複数の基準パターン信号に基づく複数の基準パターン静電潜像を形成させる基準パターン信号生成手段と、前記現像手段を用いて前記複数の基準パターン静電潜像を現像することにより前記感光体上に形成された複数の基準パターン現像像の濃度を検出しこれらの濃度に基づいて階調特性を求める階調特性測定手段とを備えた階調特性測定装置において、前記基準パターン信号生成手段が、前記転写手段により前記記録媒体上に現像像が転写される最低の濃度よりも低い低濃度の基準パターンに対応する基準パターン信号を少なくとも1つ含む複数の基準パターン信号を生成するものであり、前記階調特性測定手段が、前記低濃度の基準パターンに対応する基準パターン現像像を少なくとも1つ含む複数の基準パターン現像像の濃度を検出しこれらの濃度に基づいて階調特性を求めるものであることを特徴とする階調特性測定装置。
IPC (2件)：
G03G 15/08 115
, G03G 15/00 303
