特許

J-GLOBAL ID：200903042417652060

電子部品の特性測定装置及びその測定方法

発明者： 牧野 誠
出願人/特許権者： ニチデン機械株式会社
代理人 (1件)： 江原 省吾 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-318986
公開番号（公開出願番号）：特開平9-159724
出願日： 1995年12月07日
公開日（公表日）： 1997年06月20日
要約：

【要約】 (修正有)【課題】従来装置による一連の測定動作は、すべてシ-ケンシャルに行なわれる関係で、サイクルタイムに占める動作の作業時間が長くなり、サイクルタイムを短縮することが困難である。【解決手段】電子部品Wを一定方向に間欠的に搬送するメインの搬送系Aの停止毎に、メインの搬送系の2サイクルに対して1回の割合で間欠回転しそれぞれが交互に間欠回転する第1の測定系B1又は第2の測定系B2にメインの搬送系から電子部品を移し替えると同時に第1の測定系B1又は第2の測定系B2からメインの搬送系に電子部品を移し替え、かつそれぞれの測定系が停止している期間に電子部品のリ-ドWaにプロ-ブPBを接触させた上で、測定装置MDをそれぞれの測定系に切り替えて電子部品の特性を測定するものであって、測定時間をほぼサイクルタイムに近似させることができ、作業の効率化を図ることが可能となる。

請求項（抜粋）：

等ピッチに配置した複数のヘッドを有し、かつヘッドに電子部品を支持して一定方向に間欠的に搬送するメインの搬送系と、メインの搬送系に同期すると共にそれの2サイクルに対して1回の割合で間欠回転し、かつそれぞれが交互に間欠回転する第1,第2の測定系と、第1,第2の測定系の所定の停止ポジションに、電子部品のリ-ドに対して接離可能に配置した測定用のプロ-ブと、第1,第2の測定系のそれぞれのプロ-ブに切替手段を介して接続した単一の測定装置とを具備し、前記メインの搬送系の停止毎に、メインの搬送系から第1又は第2の測定系に電子部品を移し替えると同時に第1又は第2の測定系からメインの搬送系に電子部品を移し替え、かつそれぞれの測定系が停止している期間に電子部品のリ-ドにプロ-ブを接触させた上で、測定装置を切替手段によってそれぞれの測定系に切り替えて電子部品の特性を測定することを特徴とする電子部品の特性測定装置。

IPC (2件)：

G01R 31/26 ,  G01R 31/00

FI (2件)：

G01R 31/26 Z ,  G01R 31/00

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開昭63-032380
  
• 特開昭64-009378
  
• 電子部品の検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-077116   出願人：富士通テン株式会社
• 特開平3-030340