特許
J-GLOBAL ID：200903042597345682
スキャンパス回路および当該スキャンパス回路を備えた半導体集積回路
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小栗 昌平 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-116249
公開番号（公開出願番号）：特開2003-315413
出願日： 2002年04月18日
公開日（公表日）： 2003年11月06日
要約：
【要約】【課題】 デバイスの遅延特性のばらつきに対して柔軟に対応可能で、スキャンシフト動作の誤動作を防止可能な実装面積の小さいスキャンパス回路および当該スキャンパス回路を備えた半導体集積回路を提供すること。【解決手段】 スキャンパス回路を構成する各Dフリップフロップ(FF)13a〜13fは、通常動作時に選択される通常動作入力回路と、テスト動作時に選択されるテスト動作入力回路とを有し、テスト動作時、各FFのテスト動作入力回路には、電源電圧と接地電圧の間の中間電圧の制御信号が電圧生成回路17から送られる。この場合、電源電圧を印加した場合と比較して、各FFにおけるデータの出力変化量はなだらかになるため、データの遅延時間が長くなる。なお、テスト動作時に各FFに印加される中間電圧は、スキャンアウトされたデータにエラーがあるかを検査する検査回路15からのフィードバック信号に基づいて決定される。
請求項（抜粋）：
通常モードとは別のモード時にシフトレジスタとして動作する、複数のフリップフロップから構成されたスキャンパス回路であって、各フリップフロップは、通常モード時に選択され、前記通常モード時に所定のタイミングでデータが入力される第1の入力回路と、通常モードとは別のモード時に選択され、前記別のモード時に所定のタイミングでデータが入力される第2の入力回路と、前記第1の入力回路または前記第2の入力回路に入力されたデータに応じて所定のデータを出力する出力回路と、を備え、前記第1の入力回路および前記第2の入力回路は、モード毎に異なる制御信号が入力される端子をそれぞれ有し、通常モードとは別のモード時に、前記第2の入力回路の前記端子に入力される制御信号の電圧レベルを変えることを特徴とするスキャンパス回路。
IPC (4件)：
G01R 31/28
, H01L 21/66
, H01L 21/822
, H01L 27/04
H01L 21/66 F
, G01R 31/28 G
, G01R 31/28 V
, H01L 27/04 M
, H01L 27/04 T
2G132AA00
, 2G132AC14
, 2G132AK07
, 2G132AK15
, 2G132AL16
, 4M106AA01
, 4M106AA02
, 4M106AA04
, 4M106AC07
, 4M106CA70
, 5F038CD15
, 5F038DT06
, 5F038DT09
, 5F038DT15
, 5F038EZ20
