特許

J-GLOBAL ID：200903042636723630

電子距離測定装置

発明者： アンデルッソン,レイフ
出願人/特許権者： スペクトラ プレシジョン アクティエボラーグ
代理人 (1件)： 石田 敬 (外4名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-570604
公開番号（公開出願番号）：特表2002-525582
出願日： 1999年09月16日
公開日（公表日）： 2002年08月13日
要約：

【要約】本発明は、マイクロチップレーザを備える放射源から送信される電磁ビームの短いパルスの目標までの及び目標からの伝播時間を測定する電子距離測定装置であって、目標からの反射ビームのための対物光学システム(6;16;21)と、受信ビームが送られる検出ユニット(9;13;20)とを備える電子距離測定装置に関する。送信される電磁ビームと受信電磁ビームを同軸にする手段(4,5;15)が設けられ、受信ビームを検出ユニット(9;13;20)上に収束する手段(6,10,12;14,16;21,22)が更に設けられている。手段(3)が、目標上に十分に規定された放射測定スポットを得るために、送信電磁ビームを狭くすると共にできるだけコリメートする。

請求項（抜粋）：

マイクロチップレーザを備える放射源から送信される電磁ビームの短いパルスの目標までの及び目標からの伝播時間を測定する電子距離測定装置であって、前記目標からの反射ビームのための対物光学システム(6;16;21)と、受信されたビームが送られる検出ユニット(9;13;20)とを備える電子距離測定装置において、 前記送信される電磁ビームと前記受信された電磁ビームを同軸にする手段(4,5;15)と、 前記受信されたビームを前記検出ユニット(9;13;20)上に収束する手段(6,10,12;14,16;21,22)と、 前記目標上に十分に明瞭に示された放射測定スポットを得るために、前記送信される電磁ビームを狭くすると共にできるだけコリメートする手段(3)とを備えることを特徴とする電子距離測定装置。

IPC (3件)：

G01S 7/48 ,  G01C 3/06 ,  G01S 17/08

FI (3件)：

G01S 7/48 A ,  G01C 3/06 Z ,  G01S 17/08

Fターム (20件)：

2F112AD01 ,  2F112BA03 ,  2F112BA07 ,  2F112CA12 ,  2F112DA10 ,  2F112DA25 ,  2F112DA32 ,  2F112EA05 ,  2F112GA03 ,  5J084AA05 ,  5J084AD01 ,  5J084BA04 ,  5J084BA14 ,  5J084BB09 ,  5J084BB11 ,  5J084CA03 ,  5J084DA01 ,  5J084DA07 ,  5J084EA07 ,  5J084FA03

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭60-211381
  
• 距離測定装置
  公報種別：公表公報   出願番号：特願平6-524699   出願人：ライカアクチエンゲゼルシャフト
• 特開昭60-211381