特許

J-GLOBAL ID：200903042726503036

時間測定装置

発明者： 新免 恵三 ,  加藤 之大 ,  片野 和也
出願人/特許権者： 横河電機株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-129971
公開番号（公開出願番号）：特開2001-311754
出願日： 2000年04月28日
公開日（公表日）： 2001年11月09日
要約：

【要約】【課題】 異なるクロック周波数の複数の2信号時間差測定において、夫々を定量的に比較できる測定値を出力し、且つ、アナログメータの指示値に基づいて最適な位相調整を行うことができる時間測定装置を提供する。【解決手段】 可変ディレイ部21は、パネル操作部26からの指定量に基づいて、入力するクロック信号102を遅らせる。時間差測定部22は、データ信号101とクロック信号102との時間差測定値を時間差測定し、測定値頻度を含んだ度数データ103に変換して、度数データ格納メモリ27に格納する。周期測定部23は、クロック信号102の周期測定値を周期測定し、周期データ104に変換して、周期データ格納メモリ28に格納する。演算部24は、度数データ103及び周期データ104に基づいて、時間差測定値に対する周期測定値の比率である位相差値105を計算し、表示部25に入力する。表示部25は、位相差値105を角度表示する。

請求項（抜粋）：

2つの信号の立ち上がり又は立ち下がりの時間差を複数回サンプリングして時間差データを生成する時間差測定部と、一方の信号の周期を計測する周期測定部と、前記時間差データに基づいて2つの信号の時間差を統計的演算で求め、該求めた統計時間差と前記周期測定部で計測された周期との比率を演算し、2つの信号の位相角度差を求める演算部とを備えることを特徴とする時間測定装置。

IPC (5件)：

G01R 29/02 ,  G01R 23/10 ,  G01R 25/00 ,  G04F 10/04 ,  H04L 7/00

FI (6件)：

G01R 29/02 L ,  G01R 29/02 J ,  G01R 23/10 B ,  G01R 25/00 ,  G04F 10/04 Z ,  H04L 7/00 Z

Fターム (28件)：

2F085AA05 ,  2F085BB00 ,  2F085CC10 ,  2F085GG11 ,  2F085GG19 ,  2F085GG24 ,  2G029AA01 ,  2G029AA05 ,  2G029AB05 ,  2G029AC07 ,  2G029AD07 ,  2G029AE11 ,  2G029AF03 ,  2G029AG02 ,  2G029AH01 ,  2G030AA01 ,  2G030AB03 ,  2G030AC04 ,  2G030AD08 ,  2G030AE00 ,  2G030AF01 ,  2G030AF02 ,  2G030AG02 ,  5K047AA18 ,  5K047DD03 ,  5K047GG24 ,  5K047MM48 ,  5K047MM62

引用特許：

出願人引用 (1件)

• ジッタ解析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-210211   出願人：株式会社アドバンテスト

審査官引用 (1件)

• ジッタ解析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-210211   出願人：株式会社アドバンテスト