特許
J-GLOBAL ID:200903087694309694

ジッタ解析装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 草野 卓 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平5-210211
公開番号(公開出願番号):特開平7-063802
出願日: 1993年08月25日
公開日(公表日): 1995年03月10日
要約:
【要約】【目的】 非連続的なバースト信号のジッタ解析時においてバースト信号オフ期間中に発生するデータを除去できるようにして、バースト信号の解析をも高精度に行えるようにしたジッタ解析装置を提供する。【構成】 測定信号生成回路11と、トリガディレイ回路12と、第1及び第2のゲート回路13及び14と、ゲートオン/オフ制御回路15と、切り替え回路16と、第1及び第2の連続周期測定回路17及び18と、第1及び第2のバッファメモリ19及び20とから測定部10を構成する。バースト信号入力時に、第1及び第2のゲート回路13及び14を外部バーストオン/オフ信号又はセルフ・ゲーティング機能を有するゲートオン/オフ制御回路15からのゲートオン/オフ信号によって制御し、バースト信号オフ期間中、測定信号生成回路11から第1及び第2の連続周期測定回路17及び18への被測定信号の入力を禁止する。
請求項(抜粋):
非連続的なバースト信号を含むパルス状の被測定信号の一方のエッジが与えられ、該エッジの周期を連続的に測定する第1の連続周期測定回路と、非連続的なバースト信号を含むパルス状の被測定信号の一方のエッジ又は前記第1の連続周期測定回路に入力される被測定信号の他方のエッジが与えられ、該エッジの周期を連続的に測定する第2の連続周期測定回路と、前記第1及び第2の連続周期測定回路からそれぞれ測定周期データが得られる毎にその測定周期データが記憶される第1及び第2のメモリと、前記第1及び第2のメモリに記憶された測定周期データに基づいて、前記被測定信号の少なくとも周期、パルス幅を含む時間/周波数の諸量を算出する測定量演算手段と、算出された被測定信号の時間/周波数の諸量の解析を行う解析手段と、前記第1及び第2の連続周期測定回路に与えられるエッジをオン/オフ制御する第1及び第2のゲート回路とを具備し、非連続的なバースト信号が入力された場合には、前記第1及び第2のゲート回路をオン/オフ制御してバースト信号オフ期間中は前記連続周期測定回路への信号入力を禁止するようにしたことを特徴とするジッタ解析装置。
引用特許:
審査官引用 (3件)
  • ジツタ解析装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平3-270726   出願人:株式会社アドバンテスト
  • 特開昭63-252287
  • 特開昭63-252287

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