特許
J-GLOBAL ID：200903042780048409
光ファイバ線路の障害位置検出装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
田中 常雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-205677
公開番号（公開出願番号）：特開平10-051401
出願日： 1996年08月05日
公開日（公表日）： 1998年02月20日
要約：
【要約】【課題】 障害点の検出精度を上げる。【解決手段】 光ファイバ線路10に、信号波長λsとは異なる波長λ1を反射する光ファイバ・グレーティング10aを適当な間隔及び位置に配置する。信号光の波長λsは、グレーティング10aにより反射されずに、光ファイバ線路10を伝送する。光パルス試験器14は、信号波長λsとは異なる波長λ0,λ1のプローブ・パルス光を時間的に前後して出力する。波長λ0,λ1のプローブ光は、光合分波器16を介して光ファイバ線路10に入力し、光ファイバ線路10を伝送する。波長λ1のプローブ光の反射光は、グレーティング10aによる反射パルスを含み、それが位置基準となる。波長λ0のプローブ光は、グレーティング10aによる反射を含まない。光パルス試験器14で、波長λ0,λ1の反射光を相互比較することにより、障害の有無と位置を高精度に検出できる。
請求項（抜粋）：
信号波長とは異なる所定の反射波長を反射する反射手段を1以上の所定位置に配置した光ファイバ線路と、少なくとも当該反射波長のプローブ・パルス光を発生し、当該反射手段からの反射光を距離マーカとして用い、当該光ファイバ線路からのレーリ後方散乱光及び障害点からのフレネル反射光を時間軸上で分析する光パルス試験手段とからなることを特徴とする光ファイバ線路の障害位置検出装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
H04B 17/00 E
, H04B 9/00 Z
