特許
J-GLOBAL ID:200903043008432674

断層撮影装置による画像データの取得および評価方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 山口 巖
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-017166
公開番号(公開出願番号):特開2005-211655
出願日: 2005年01月25日
公開日(公表日): 2005年08月11日
要約:
【課題】短縮された走査時間にて追加情報および特殊な画像表示を得る。【解決手段】検査対象(3)の検査範囲から異なるスペクトル分布で少なくとも2つの撮影が記録され、両撮影から得られた測定データが、異なるスペクト分布から検査範囲に関する追加情報および/または検査範囲の特殊な画像表示が得られるように評価される、断層撮影装置(1)による画像データの取得および評価方法において、少なくとも2つの別々の撮影システム(8〜11)を有する断層撮影装置(1)が使用され、両撮影システム(8〜11)が異なるスペクトル分布で動作するように作動させられる徴とする。【選択図】図4
請求項(抜粋):
検査対象(3)の検査範囲から異なるスペクトル分布で少なくとも2つの撮影が記録され、両撮影から得られた測定データが、異なるスペクト分布から検査範囲に関する追加情報および/または検査範囲の特殊な画像表示が得られるように評価される、断層撮影装置(1)による画像データの取得および評価方法において、 少なくとも2つの別々の撮影システム(8〜11)を有する断層撮影装置(1)が使用され、両撮影システム(8〜11)が異なるスペクトル分布で動作するように作動させられる ことを特徴とする断層撮影装置による画像データの取得および評価方法。
IPC (1件):
A61B6/03
FI (3件):
A61B6/03 373 ,  A61B6/03 370G ,  A61B6/03 375
Fターム (13件):
4C093AA22 ,  4C093AA24 ,  4C093BA03 ,  4C093CA21 ,  4C093CA37 ,  4C093DA02 ,  4C093EA02 ,  4C093EA07 ,  4C093EB11 ,  4C093EB18 ,  4C093FF21 ,  4C093FF33 ,  4C093FF50
引用特許:
出願人引用 (4件)
  • 米国特許第4991190号明細書
  • 独国特許出願公開第10302565号明細書
  • 米国特許第4247774号明細書
全件表示
審査官引用 (4件)
全件表示

前のページに戻る