特許

J-GLOBAL ID：200903043017222917

IC試験装置

発明者： 宇田 憲司
出願人/特許権者： 横河電機株式会社
代理人 (1件)： 渡辺 正康 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-118464
公開番号（公開出願番号）：特開平8-313592
出願日： 1995年05月17日
公開日（公表日）： 1996年11月29日
要約：

【要約】【目的】 プログラムが簡単で高速に試験が行え、安価に構成することができるIC試験装置を実現することを目的にする。【構成】 本発明は、電圧値データを入力し、電圧値データに対応した多値電圧信号を出力する被試験対象の試験を行うIC試験装置に改良を加えたものである。本装置は、電圧値データを高速に与える高速信号発生部と、被試験対象が多値電圧信号を出力する出力ピンごとに設けられ、被試験対象からの多値電圧信号を入力し、電圧値データに対応した比較電圧と比較する低速動作の低速比較部と、を有することを特徴とする。

請求項（抜粋）：

電圧値データを入力し、電圧値データに対応した多値電圧信号を出力する被試験対象の試験を行うIC試験装置において、前記電圧値データを高速に与える高速信号発生部と、前記被試験対象が多値電圧信号を出力する出力ピンごとに設けられ、被試験対象からの多値電圧信号を入力し、前記電圧値データに対応した比較電圧と比較する低速動作の低速比較部と、を有することを特徴とするIC試験装置。

IPC (2件)：

G01R 31/28 ,  G01R 31/26

FI (3件)：

G01R 31/28 P ,  G01R 31/26 Z ,  G01R 31/28 D

引用特許：

審査官引用 (5件)

• AD回路を使用するICテスタ
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-103689   出願人：安藤電気株式会社
• 特開昭61-041977
  
• LSI検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-340863   出願人：シャープ株式会社
• 特開昭64-041875
  
• 特開平4-005584