特許

J-GLOBAL ID：200903043122030985

表面特性を特定するための方法および装置

発明者： コンラド・レックス
出願人/特許権者： ビック-ガルトナー・ゲーエムベーハー
代理人 (5件)： 志賀 正武 ,  渡邊 隆 ,  青山 正和 ,  村山 靖彦 ,  実広 信哉
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-245852
公開番号（公開出願番号）：特開2005-070051
出願日： 2004年08月25日
公開日（公表日）： 2005年03月17日
要約：

【課題】 表面の視覚的な印象を特徴づけるシステムあるいは方法を提供する。【解決手段】 表面特性を特定するための方法であって、表面の凹凸を特徴づける第一の特性値と第二の特性値が算出され、少なくとも第一の特性値に数学的な処理を適用することによって第一の導出値が算出され、少なくとも第二の特性値に数学的な処理を適用することによって第二の導出値が算出される。このとき、第一の導出値と第二の導出値との間に、少なくとも部分的に、表面の視覚的な特性に関して記述する関係が構築される。最終的に第一の導出値と第二の導出値は共通の基準系に表示される。【選択図】 図3

請求項（抜粋）：

表面特性を特定するための方法であって 所定の表面の凹凸ないし粗さに対して第一の特性値を算出する工程と、 前記表面の凹凸ないし粗さに対して第二の特性値を算出する工程と、 少なくとも前記第一の特性値に数学的な処理を適用することにより第一の導出値を算出する工程と、 少なくとも前記第二の特性値に数学的な処理を適用することにより第二の導出値を算出する工程とを有し、 このとき、前記第一の導出値と前記第二の導出値との間に、少なくとも部分的に、表面の視覚的な特性について記述する一つの関係を成立させ、 前記第一の導出値と、前記第二の導出値とを共通の基準系に表示する工程とを有してなる方法。

IPC (2件)：

G01B21/30 ,  G01B11/30

FI (2件)：

G01B21/30 102 ,  G01B11/30 102Z

Fターム (30件)：

2F065AA50 ,  2F065CC11 ,  2F065FF04 ,  2F065GG02 ,  2F065GG04 ,  2F065GG07 ,  2F065GG12 ,  2F065HH03 ,  2F065HH12 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065MM00 ,  2F065QQ13 ,  2F065QQ14 ,  2F065QQ16 ,  2F065QQ29 ,  2F065QQ33 ,  2F065QQ42 ,  2F069AA60 ,  2F069BB21 ,  2F069GG04 ,  2F069GG07 ,  2F069GG52 ,  2F069NN02 ,  2F069NN05 ,  2F069NN06 ,  2F069NN07 ,  2F069NN09 ,  2F069NN10 ,  2F069NN26

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 表面を特徴づけるための方法及び装置
  公報種別：公表公報   出願番号：特願平9-520562   出願人：シュミットメジャーメントシステムズインコーポレイテッド
• 表面粗さ評価方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-011228   出願人：富士通株式会社
• 特開平2-271211