特許

J-GLOBAL ID：200903043287439926

永久磁石の検査方法および検査装置

発明者： 立谷 雄一
出願人/特許権者： 株式会社トーキン
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-228709
公開番号（公開出願番号）：特開2000-046801
出願日： 1998年07月28日
公開日（公表日）： 2000年02月18日
要約：

【要約】【課題】 粉末図形法を利用しつつも、目視に依存することなく、多数の永久磁石について、表面のきずや偏析等の欠陥を、定量的に、かつ正確に層別する方法と、その装置を提供すること。【解決手段】 粉末図形法によって写し出される永久磁石1の表面における磁界分布の像を、2値化方式画像解析するとともに、予め設定された基準と照合し、永久磁石1を層別することによって永久磁石1の検査を行なう。マグネットビュア3、2値化方式画像解析装置2を基本構成とし、搬送機構4をはじめとする各機構を備え、制御器8によってシーケンス動作させる永久磁石の検査装置を構築し、検査の自動化を実現する。

請求項（抜粋）：

粉末図形法によって写し出される永久磁石の表面における磁界分布の像を、画像解析するとともに、予め設定された基準と照合し、前記永久磁石を層別することを特徴とする永久磁石の検査方法。

IPC (2件)：

G01N 27/85 ,  G01R 33/12

FI (2件)：

G01N 27/85 ,  G01R 33/12 M

Fターム (13件)：

2G017AA08 ,  2G017CA12 ,  2G017CB18 ,  2G053AA11 ,  2G053AB01 ,  2G053BA02 ,  2G053BB03 ,  2G053BC20 ,  2G053CA11 ,  2G053CB27 ,  2G053CC06 ,  2G053DC17 ,  2G053DC20

引用特許：

審査官引用 (5件)

• 特開昭54-111870
  
• 特開平4-223262
  
• 超音波亀裂検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-059825   出願人：日立金属株式会社
• 欠陥判別方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-000568   出願人：日立金属株式会社
• 特開昭64-009383