特許
J-GLOBAL ID：200903043433931609
工具チップ欠損検査システム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
竹本 松司 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-192044
公開番号（公開出願番号）：特開平10-096616
出願日： 1997年07月03日
公開日（公表日）： 1998年04月14日
要約：
【要約】【課題】 工作機械の工具チップの摩耗/欠け落ちを視覚センサを用いて自動検査するシステム。【解決手段】 フライス盤の工具(ミル)1は、要検査時に取り外されて走行ロボットにより移送され、チップ検査交換作業台TB上の治具JGに固定される。ロボット#2はミル1のチップ3をエアガンAGで順次洗浄する。次いで、ロボット#3はチップ検査位置へ順次移動し、ストラクチャライトユニットSUの投光窓11からスリット光をチップ3に投光する。撮影窓21を通してカメラ撮影を行い、画像処理装置で解析し、チップの欠損の大きさを表わす指標データを求め、交換の要/不要を判定する。要交換チップがあればナットランナNRを装備したロボット#2を用いて要交換チップを新チップに交換する。工具(ミル)1を工作機械に装着したまま検査位置にチップを位置決めし、カメラ撮影により欠損指標データを求める手法もある。
請求項（抜粋）：
工作機械の工具に装着された工具チップの摩耗、欠け落ちあるいはその両者によって生じる欠損を検査する工具チップ欠損検査システムにおいて、前記工具に装着された工具チップが予め定められた検査位置に来るように前記工具の並進位置並びに回転位置を制御する手段と、前記検査位置にある工具チップについて所定の方向からセンシングを行ない、欠損の大きさを表わす指標のデータを取得する視覚センサ手段を備えた、前記工具チップ欠損検査システム。
IPC (3件)：
G01B 11/30
, B23Q 17/09
, B23Q 17/24
G01B 11/30 Z
, B23Q 17/09 C
, B23Q 17/24 Z
