特許
J-GLOBAL ID：200903043538478764
屈折率測定用の装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
石田 敬 (外3名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-513655
公開番号（公開出願番号）：特表平9-504875
出願日： 1994年11月03日
公開日（公表日）： 1997年05月13日
要約：
【要約】準円筒状に対称的な透明物体(2)の光学的性質を測定する装置である。この装置は、電磁照射の源を提供する照射源手段(11)、照射ビーム(41)を形成する照射形成手段、局部的半径方向領域(42)を選択する領域選択手段、半径方向位置の範囲にわたり局部的半径方向領域(42)を走査する領域走査手段、反射ビーム(43)を検出する反射検出手段、および反射ビーム(43)が透明物体(2)を離れる位置の成分を測定するビーム測定手段を具備する。また、照射ビーム(41)、反射ビーム(43)、および透明物体(2)の回転対称の軸(1)が測定平面内に位置するようにする支持手段、および透明物体(2)上の照射ビーム(41)の入射角度を変化させる角度変化手段を具備する。
請求項（抜粋）：
準円筒状に対称的な透明な物体の光学的性質を測定する装置であって、該装置は、 電磁照射の源を提供する照射源手段、 透明な物体の照射用の電磁照射のビームを形成させる照射形成手段、 照射ビームにより照射される透明物体内における1つの局部的な半径方向領域を走査する領域走査手段、 局部的な半径方向領域において照射ビームから反射される電磁照射の反射ピームを検出する反射検出手段、 透明物体の回転対称の軸に平行な1つの方向に沿い反射ビームが透明物体を離れる点の位置の成分を測定するビーム測定手段、 照射ビーム、反射ビーム、および透明物体の回転対称の軸を、透明物体の半径に比較して一般的に小なる厚さをもつ測定平面内に位置させる支持手段、 測定平面内における照射ビームの透明物体への入射角度を変化させる角度変化手段、 装置の成分を、測定が要求された時間に要求された順序で行われるように、制御する制御手段、および、 透明物体の光学的性質を計算する計算手段、 を具備することを特徴とする装置。
IPC (3件)：
G01M 11/02
, G01N 21/27
, G01N 21/41
G01M 11/02 H
, G01N 21/27 B
, G01N 21/41 Z
