特許
J-GLOBAL ID：200903043558521615

脳機能検査方法及び脳機能検査装置

発明者：
村上 宗司

村上 宗司 について

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福島 省吾

福島 省吾 について

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鈴木 健之

鈴木 健之 について

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仲島 了治

仲島 了治 について


出願人/特許権者：
松下電工株式会社

松下電工株式会社 について


代理人 (1件)： 西川 惠清 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-340996
公開番号（公開出願番号）：特開2002-034920
出願日： 2000年11月08日
公開日（公表日）： 2002年02月05日
要約：
【要約】【課題】多変量解析を用いることによって、脳機能の老化度合いや、自律神経系の活動度合い、痴呆性の有無やアルツハイマー病を容易に検査できる脳機能検査方法及び脳機能検査装置を提供することにある。【解決手段】多変量演算手段2は、多変量解析における判別分析手法によって種々の瞳孔指標より判別値を選出するもので、その機能としては瞳孔指標計算部13で求めた被験者の瞳孔Mの静特性又は動特性に関する複数の指標を用いてより少ない指標に変換して当該被験者の判別値w1を計算する多変量解析計算機能20と、瞳孔指標計算部13で求めてデータベース手段3に格納した多数の被験者の瞳孔指標を呼び出して多変量解析計算を行い、多数の被験者の判別値w2を計算する多変量解析計算機能21とからなり、これらの判別値w1、w2を出力手段4で表示させる。
請求項（抜粋）：
被験者の瞳孔の大きさを検出して脳機能の検査を行う脳機能検査方法において、前記被験者の瞳孔の静特性又は動特性に関する指標を導出し、導出された瞳孔の静特性又は動特性に関する指標を用いてより少ない指標に変換する多変量演算を行い、この変換された指標を用いて脳機能の検査を行うことを特徴とする脳機能検査方法。
IPC (4件)：
A61B 3/11 ,  A61B 10/00 ,  G06N 3/00 560 ,  G06T 1/00 290
FI (5件)：
A61B 10/00 H ,  A61B 10/00 F ,  G06N 3/00 560 Z ,  G06T 1/00 290 Z ,  A61B 3/10 A
Fターム (8件)：
5B057AA07 ,  5B057BA02 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057DA07 ,  5B057DB02 ,  5B057DC03 ,  5B057DC04
引用特許：
出願人引用 (3件) 審査官引用 (3件)

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