特許
J-GLOBAL ID:200903043590034548
X線装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
秋田 収喜
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-004986
公開番号(公開出願番号):特開平10-192267
出願日: 1997年01月14日
公開日(公表日): 1998年07月28日
要約:
【要約】【課題】 被検体の着目領域の3次元画像のS/Nが同一のX線量総和に対して増大するようにX線量の配分を実現すること。【解決手段】 X線を被検体に照射し、該被検体のX線像を得るX線装置において、X線を被検体に照射するX線照射手段と、該被検体のX線像を得る撮像手段と、該X線像の所定領域内の画像強度に基づいて、所定のX線相対ノイズ値のX線像が得られるように照射線量を制御する照射線量制御手段とを具備する。
請求項(抜粋):
X線を被検体に照射し、該被検体のX線像を得るX線装置において、X線を被検体に照射するX線照射手段と、該被検体のX線像を得る撮像手段と、該X線像の所定領域内の画像強度に基づいて、所定のX線相対ノイズ値のX線像が得られるように照射線量を制御する照射線量制御手段とを具備することを特徴とするX線装置。
IPC (2件):
A61B 6/00 320
, H05G 1/64
FI (2件):
A61B 6/00 320 Z
, H05G 1/64 B
引用特許:
審査官引用 (2件)
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X線診断装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-205201
出願人:株式会社東芝
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特開平4-276239
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