特許
J-GLOBAL ID：200903043673450225

溶射皮膜の膜厚計測方法

発明者：
難波 一夫

難波 一夫 について


出願人/特許権者：
石川島播磨重工業株式会社

石川島播磨重工業株式会社 について


代理人 (1件)： 堀田 実 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-343752
公開番号（公開出願番号）：特開2000-171234
出願日： 1998年12月03日
公開日（公表日）： 2000年06月23日
要約：
【要約】【課題】 溶射皮膜と基材材質に左右されることなく、鉄系の素地に溶射された鉄系の金属皮膜の厚さを非破壊で計測することができる溶射皮膜の膜厚計測方法を提供する。【解決手段】 溶射皮膜2の表面から溶射基材1に向けて超音波4を入射し、入射波4aが溶射皮膜と基材の境界面7から反射して表面に戻ってくるまでの反射時間t1 を計測し、予め求めた溶射皮膜内の音速v1 と反射時間t1 とから、溶射皮膜の厚さT1 を算出する。また、溶射皮膜の形成時に同一の皮膜を有する試験片を制作し、試験片の皮膜厚さT0 を予め測定し、これと試験片を用いて計測して反射時間t0 から溶射皮膜内の音速v1 を算出する。
請求項（抜粋）：
溶射皮膜の表面から溶射基材に向けて超音波を入射し、入射した超音波が溶射皮膜と基材の境界面から反射して表面に戻ってくるまでの反射時間t1 を計測し、予め求めた溶射皮膜内の音速v1 と前記反射時間とから、溶射皮膜の厚さT1 を算出する、ことを特徴とする溶射皮膜の膜厚計測方法。
Fターム (13件)：
2F068AA28 ,  2F068BB09 ,  2F068BB12 ,  2F068BB17 ,  2F068BB22 ,  2F068BB25 ,  2F068CC16 ,  2F068FF12 ,  2F068FF14 ,  2F068FF16 ,  2F068FF25 ,  2F068GG01 ,  2F068KK12
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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