特許
J-GLOBAL ID：200903043912026651

微粒体の硬度評価方法、及びその方法を実施するためのプログラム等

発明者：
椿 淳一郎

椿 淳一郎 について


出願人/特許権者：
財団法人名古屋産業科学研究所

財団法人名古屋産業科学研究所 について


代理人 (1件)： 小林 洋平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-025286
公開番号（公開出願番号）：特開2003-227782
出願日： 2002年02月01日
公開日（公表日）： 2003年08月15日
要約：
【要約】【課題】 微粒体の硬度を測定する装置を提供すること【解決手段】 この硬度評価装置には、微粒体1を収容した状態で加圧可能な加圧容器4と、微粒体層2に圧力を加える加圧装置3と、微粒体層2を加圧したときの変形量と圧力変化量とを測定する測定装置7と、測定装置7に接続されたコンピュータ10とが設けられている。加圧装置3には、ピストン3aが設けられており、このピストン3aが一定の速度で微粒体層2を押圧することにより、加圧するようになっている。測定装置7は、加圧装置3による押し込みを開始した時点からの経過時間(変化量)と、その時間における加圧装置3に加わる圧力変化量とを連続的に測定することができる。
請求項（抜粋）：
微粒体の硬度を評価する方法であって、(a)多数の微粒体を閉じこめた微粒体層の状態で圧力を加えて、その微粒体層の変形量と圧力変化量とを測定し、(b)前記変形量と前記圧力変化量とがほぼ直線的な範囲を抽出し、(c)その範囲内における前記変形量と前記圧力変化量とに基づいて、前記微粒体の硬度を計算することを特徴とする微粒体の硬度評価方法。
IPC (3件)：
G01N 3/00 ,  G01N 3/08 ,  G01N 3/40
FI (3件)：
G01N 3/00 L ,  G01N 3/08 ,  G01N 3/40 Z
Fターム (8件)：
2G061AA02 ,  2G061AB06 ,  2G061BA20 ,  2G061CA07 ,  2G061CA18 ,  2G061DA12 ,  2G061EA01 ,  2G061EA02
引用特許：
審査官引用 (2件)
  • 特開平2-216028
  • 顆粒体の圧密特性評価方法
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-337107   出願人：ホソカワミクロン株式会社, 財団法人ファインセラミックスセンター
引用文献：
審査官引用 (1件)
  • 粒子状物質材料の硬度評価

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