特許

J-GLOBAL ID：200903044256920134

電場に基づいた光散乱分光法を用いた方法およびシステム

発明者： ヤング,チヤングエイ ,  ワツクス,アダム・ピー ,  ペレルマン,レブ・テイ ,  ダサリ,ラマチヤンドラ・アール ,  フエルド,マイケル・エス
出願人/特許権者： マサチユセツツ・インスチチユート・オブ・テクノロジイ
代理人 (1件)： 小田島 平吉
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-581098
公開番号（公開出願番号）：特表2003-532112
出願日： 2001年04月27日
公開日（公表日）： 2003年10月28日
要約：

【要約】本発明は電場に基づいた光散乱分光法のシステムおよび方法に関する。このシステムおよび方法は細胞の特性の大きさおよび分布を測定することにより組織の診断を行なう。電場に基づいた測定によって材料の内部における散乱体の相互作用および入射光の波面から得られる位相情報が与えられる。これらの測定によって組織の三次元画像が得られる。

請求項（抜粋）：

第1の波長をもつ第1のビームおよび第2の波長をもつ第2のビームをもつ空間的にコヒーレントな光で材料の興味のある区域を照射し、 可変経路長を有する光路に沿って第1の波長および第2の波長をもつ参照光を向かわせ、 照射した光に応答して該材料から散乱される光を検出し、また経路長を変化させながら参照光を検出し、 検出された散乱光および検出された参照光からのヘテロダイン信号を生成することを特徴とする材料の測定方法。

IPC (3件)：

G01N 21/17 630 ,  G01B 9/02 ,  G01N 21/27

FI (3件)：

G01N 21/17 630 ,  G01B 9/02 ,  G01N 21/27 B

Fターム (41件)：

2F064AA00 ,  2F064BB00 ,  2F064EE01 ,  2F064FF02 ,  2F064FF06 ,  2F064GG02 ,  2F064GG12 ,  2F064GG20 ,  2F064GG22 ,  2F064GG24 ,  2F064GG44 ,  2F064HH01 ,  2F064HH06 ,  2F064JJ05 ,  2F064JJ06 ,  2G059AA05 ,  2G059AA06 ,  2G059BB12 ,  2G059CC16 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059EE11 ,  2G059FF01 ,  2G059FF02 ,  2G059FF09 ,  2G059GG01 ,  2G059GG09 ,  2G059HH01 ,  2G059HH02 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ07 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK01 ,  2G059MM01 ,  2G059MM02 ,  2G059MM03 ,  2G059MM10 ,  2G059PP04

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 光断層イメージング装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-319850   出願人：オリンパス光学工業株式会社
• 組織形態の測定法
  公報種別：公表公報   出願番号：特願2000-515487   出願人：マサチユセツツ・インスチチユート・オブ・テクノロジイ