特許

J-GLOBAL ID：200903044485392320

マルチビーム走査装置

発明者： 森脇 一
出願人/特許権者： 日本電気エンジニアリング株式会社
代理人 (1件)： 鈴木 正剛
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-007907
公開番号（公開出願番号）：特開平9-197310
出願日： 1996年01月19日
公開日（公表日）： 1997年07月31日
要約：

【要約】【課題】 複数の光ビームの走査間隔を容易に調整できるマルチビーム走査装置を提供する。【解決手段】 レーザダイオードLD1とLD2、レーザダイオードLD1とLD2からの光ビームを平行光束にするコリメータレンズ7と8、レーザダイオードLD2からの光ビームの偏光方向を変えるλ/2板5、レーザダイオードLD1とLD2からの光ビームの光軸を合わせる偏光ビームスプリッタ6、偏光ビームスプリッタ6からの光ビームを走査感材面13に結像するためのシリンドリカルレンズ10と11、ポリゴンミラー9、fθレンズ11などからなる結像光学系、並びに角度変位ユニット14などから構成される。角度変位調整ユニット14は、2枚のウェッジプリズムを組み合わせて構成され、レーザダイオードLD2からの光ビームを走査方向と直交する副走査方向に偏向する。

請求項（抜粋）：

それぞれ光ビームを出力する複数の発光手段と、進行方向の異なる複数の前記光ビームの光軸合わせをする合成手段と、前記光軸合わせされた複数の光ビームを偏向する偏向手段と、前記偏向された複数の光ビームを被走査面に結像させる結像手段と、を有し、さらに、前記発光手段と前記合成手段との間に設けられ、前記複数の光ビームの少なくとも1つを走査方向と直交する副走査方向に偏向する角度変位調整ユニットを備えたことを特徴とするマルチビーム走査装置。

IPC (4件)：

G02B 26/10 ,  G02B 5/04 ,  G02B 5/30 ,  G02B 27/28

FI (4件)：

G02B 26/10 B ,  G02B 5/04 A ,  G02B 5/30 ,  G02B 27/28 Z

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭63-193124
  
• 2ビーム光走査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-117234   出願人：コニカ株式会社
• 特開昭63-050809