特許
J-GLOBAL ID：200903006955356563
近磁界プローブによる電磁ノイズ測定装置。
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
園田 敏雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-039797
公開番号（公開出願番号）：特開平11-223647
出願日： 1998年02月06日
公開日（公表日）： 1999年08月17日
要約：
【要約】【課題】電磁ノイズ測定の対象とする電気部品に対する近磁界プローブの位置決精度を高めるとともに、その位置決めを簡単、容易に行えるように、近磁界プローブ装置の機構構造及びその位置決法を工夫すること。【課題解決手段】平に構成したループコイルを検知部として持つ近磁界プローブ部による、電気部品に対する電磁ノイズ測定装置を前提として、導電性薄膜または導電性金属箔で近磁界プローブ部のループコイル部を構成し、位置決めのための基準となる磁界信号を外部から与え、当該磁界信号を近磁界プローブ部のループコイル部によって検知し、これに基づいて位置決めを行うこと。
請求項（抜粋）：
ループコイルを検知部として持つ近磁界プローブ部による、電気部品に対する電磁ノイズ測定装置において、導電性薄膜または導電性金属箔で近磁界プローブ部のループコイル部を構成し、位置決めのための基準となる磁界信号を、電気部品固定用台に固定した基準磁界信号発信部から発信させ、当該基準磁界信号を近磁界プローブ部のループコイル部によって検知し、これに基づいてプローブを所定の測定位置に位置決めすることを特徴とする近磁界プローブによる電磁ノイズ測定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01R 29/08 D
, G01R 33/10
