特許
J-GLOBAL ID：200903044653810604

AFシステム

発明者：
田水 伸也

田水 伸也 について


出願人/特許権者：
京セラ株式会社

京セラ株式会社 について


代理人 (1件)： 井ノ口 壽
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-197519
公開番号（公開出願番号）：特開2002-014278
出願日： 2000年06月30日
公開日（公表日）： 2002年01月18日
要約：
【要約】【課題】 ピント位置を検出した後、被写体の変化に対応して再度ピント位置検出処理を行うか否かの的確な判断をし、ピント位置検出処理を実行すると判断した場合、最適なスキャン処理を行って効率の良いAFを実現することができるシステムを提供する。【解決手段】 山登りでAFスキャンを行い、合焦した後、その合焦位置近辺のAFデータを取り込んで平均化した値を算出し、この平均値に対し、順次取り込んでいるAFデータの差分量を算出し、その差分量が変化判定レベル1(n×δ),2(m×δ)に対し大きいか否かの判断を行う。変化判定レベル1より小さい場合には変化無しと判断し、再スキャンは行わない。変化判定レベル1より大きく、変化判定レベル2より小さい場合には狭い範囲のスキャン処理を行う。変化判定レベル2より大きい場合は、広い範囲のスキャンを行い、間引いた荒いスキャン処理を行いピント位置検出する。
請求項（抜粋）：
山登り方式により合焦動作を行い、ピント位置を検出した後も継続的にピントを追うAFシステムにおいて、合焦後、合焦位置近傍のデータの時間的平均値を取り、その合焦位置近傍の平均値とその合焦位置近傍のデータ最大値の差分量が第1の変化判定レベルより小さい場合には変化無しと判断し、前記差分量が第1の変化判定レベルより大きく第2の変化判定レベルより小さい場合には変化量が小と判断し、前記差分量が第2の変化判定レベルより大きいと判断した場合には変化量が大きいと判断し、前記変化量が大きい場合には広い範囲を間引いた荒いスキャンを行い、前記変化量が小さい場合には狭い範囲を細かくスキャンすることを特徴とするAFシステム。
IPC (3件)：
G02B 7/28 ,  G01C 3/06 ,  G02B 7/36
FI (3件)：
G01C 3/06 P ,  G02B 7/11 N ,  G02B 7/11 D
Fターム (15件)：
2F112AB10 ,  2F112BA02 ,  2F112BA05 ,  2F112CA02 ,  2F112FA03 ,  2F112FA29 ,  2F112FA45 ,  2F112GA10 ,  2H051BA47 ,  2H051CE14 ,  2H051DA22 ,  2H051DA28 ,  2H051DA31 ,  2H051DB03 ,  2H051FA48
引用特許：
出願人引用 (9件)
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審査官引用 (9件)
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