特許
J-GLOBAL ID:200903044850688667
校正支援装置、校正支援方法、プログラム、および記録媒体
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
谷川 英和
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-053985
公開番号(公開出願番号):特開2008-216042
出願日: 2007年03月05日
公開日(公表日): 2008年09月18日
要約:
【課題】従来の校正支援装置においては、不良コストおよび校正コストを削減できないという課題があった。【解決手段】校正対象が取得した測定値を受け付ける受付部11と、校正対象の測定値が正常である値の範囲である許容範囲を示す情報である許容範囲情報が格納され得る許容範囲情報格納部12と、許容範囲情報が示す正常である値の範囲に対する、受付部11が受け付けた測定値の分布位置を判断する分布位置判断部14と、分布位置判断部14の判断結果に応じて、校正対象1についての最適修正限界または最適点検間隔の少なくとも一方を算出する算出部15と、算出部15の算出した算出結果を示す情報を出力する出力部17とを備えた。【選択図】図1
請求項(抜粋):
校正対象の校正を支援する校正支援装置であって、
前記校正対象が取得した測定値を受け付ける受付部と、
前記校正対象の測定値が正常である値の範囲である許容範囲を示す情報である許容範囲情報が格納され得る許容範囲情報格納部と
前記許容範囲情報が示す正常である値の範囲に対する、前記受付部が受け付けた測定値の分布位置を判断する分布位置判断部と、
前記分布位置判断部の判断結果に応じて、前記校正対象についての最適修正限界または最適点検間隔の少なくとも一方を算出する算出部と、
前記算出部の算出した算出結果を示す情報を出力する出力部とを具備する校正支援装置。
IPC (1件):
FI (1件):
Fターム (3件):
2F076AA02
, 2F076AA06
, 2F076AA07
引用特許:
出願人引用 (2件)
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機器設備の保守支援方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2002-307780
出願人:株式会社日立製作所
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計器校正支援システム
公報種別:公開公報
出願番号:特願2003-201058
出願人:株式会社日立製作所
審査官引用 (1件)
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計器校正支援システム
公報種別:公開公報
出願番号:特願2003-201058
出願人:株式会社日立製作所
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