特許
J-GLOBAL ID：200903033342472550
計器校正支援システム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
笹岡 茂
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-201058
公開番号（公開出願番号）：特開2005-043121
出願日： 2003年07月24日
公開日（公表日）： 2005年02月17日
要約：
【課題】計器校正の時期、また、過去の校正データが存在しない計器の場合にも信頼性を確保した計器の校正支援にある。【解決手段】計器の校正データを用いて校正周期を予測した結果と、オンラインによるドリフト検出の結果を総合して計器の校正周期を提示する計器校正支援システムであって、校正データを格納した計器校正履歴データベース1と、校正データをもとに計器の校正周期を予測する計器校正データ解析部2と、計器により測定されたプロセス値をオンラインで取得し、蓄積する手段を有するプロセス値格納データベース4と、プロセス値をもとにモデルを作成し、計器のドリフトをオンラインで検出する計器ドリフト検出部5と、計器校正データ解析部の結果および計器ドリフト検出部の結果を総合する総合判断部3と、総合判断部の結果を表示する出力表示部8とを備える。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
計器の校正データを用いて校正周期を予測した結果と、オンラインによるドリフト検出の結果を総合して計器の校正周期を提示する計器校正支援システムであって、
前記校正データを格納した計器校正履歴データベースと、前記校正データをもとに計器の校正周期を予測する計器校正データ解析部と、計器により測定されたプロセス値をオンラインで取得し、蓄積する手段を有するプロセス値格納データベースと、前記プロセス値をもとにモデルを作成し、計器のドリフトをオンラインで検出する計器ドリフト検出部と、前記計器校正データ解析部の結果および前記計器ドリフト検出部の結果を総合する総合判断部と、前記総合判断部の結果を表示する出力表示部とを備えることを特徴とする計器校正支援システム。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (15件)：
2F076AA06
, 2F076AA07
, 2F076BA05
, 2F076BA13
, 2F076BA18
, 2F076BD07
, 2F076BD11
, 2F076BD14
, 2F076BE04
, 2F076BE06
, 2F076BE08
, 2F076BE09
, 2F076BE10
, 2F076BE13
, 2F076BE17
審査官引用 (8件)
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プラント内伝送器の監視方法及びシステム
公報種別：公開公報
出願番号：特願平8-260752
出願人：株式会社日立製作所
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校正周期適正化方法
公報種別：公開公報
出願番号：特願平9-243681
出願人：株式会社日立製作所
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計器評価システム
公報種別：公開公報
出願番号：特願2001-025634
出願人：横河電機株式会社, 日本原子力発電株式会社, 横河エンジニアリングサービス株式会社
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