特許
J-GLOBAL ID：200903045118335073
超音波探傷方法及び装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
中濱 泰光
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-138991
公開番号（公開出願番号）：特開2004-340807
出願日： 2003年05月16日
公開日（公表日）： 2004年12月02日
要約：
【課題】超音波により微小冷接性欠陥を検出する方法およびそれに用いる装置に関する。【解決手段】接合面へ超音波を入射し、入射波に対する透過波の波形のひずみから微小冷接性欠陥を検出する。超音波が縦波の場合は接合面へ超音波を振幅が接合面に垂直になるように、振幅を変えて複数回入射し、各入射毎に入射波に対する透過波の波形を周波数分析して基本波と高調波の振幅比を求め、各入射毎に得られた前記振幅比を比較して微小冷接性欠陥の有無を判定し、横波の場合は接合面へ超音波を振幅が接合面に平行になるように、周波数を変えて複数回入射し、各入射毎に入射波に対する透過波の波形を周波数分析して基本波と高調波の振幅比を求め、各入射毎に得られた前記振幅比を比較して微小冷接性欠陥の有無を判定する。【選択図】 図6
請求項（抜粋）：
接合面へ超音波を入射し、入射波に対する透過波の波形のひずみから微小冷接性欠陥を検出することを特徴とする接合部の超音波探傷方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N29/08 505
, G01N29/12
2G047AB01
, 2G047AC05
, 2G047BA01
, 2G047BC04
, 2G047BC07
, 2G047GG27
