大きな物体の幾何学的形状を走査するシステム

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：小田島平吉
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-512250
公開番号（公開出願番号）：特表2003-505682
出願日： 2000年07月10日
公開日（公表日）： 2003年02月12日
要約：

【要約】表面の幾何学的形状を局所的に一点毎に検出する装置(2)を備えたセンサーユニット(1)、および該センサーユニット(1)を動かすためのロボットユニット(4)を具備した物体(6)の表面の幾何学的形状を検出するシステムにおいて、該センサーユニット(1)は該物体の表面の幾何学的形状を非接触的に探査検出するための光学的スキャナーユニット(2)、および既知の位置にある基準点(9)のネットワーク(8)によって定義される全体的な座標系の中における該センサーユニット(1)の位置を決定するように設計された位置測定ユニット(3)を含にでいるシステム。さらに計算ユニット(5)が備えられ、該計算ユニット(5)はスキャナーユニット(2)および位置測定ユニット(3)からのデータを集め、スキャナーユニット(2)からのデータを全体的な座標系に関係付けるために変換するように設計されている。またさらに物体(6)の表面の幾何学的形状を検出する方法、およびセンサーユニット(1)を較正する方法が提供される。

請求項（抜粋）：

表面の幾何学的形状を局所的に一点毎に検出する装置(2)を備えたセンサーユニット(1)、および該センサーユニット(1)を動かすためのロボットユニット(4)を具備した物体(6)の表面の幾何学的形状を検出するシステムにおいて、該センサーユニット(1)は該物体の表面の幾何学的形状を非接触的に探査検出するための光学的スキャナーユニット(2)、および既知の位置にある基準点(9)のネットワーク(8)によって定義される全体的な座標系の中における該センサーユニット(1)の位置を決定するように設計された位置測定ユニット(3)を含み、さらに計算ユニット(5)が備えられ、該計算ユニット(5)はスキャナーユニット(2)および位置測定ユニット(3)からのデータを集め、スキャナーユニット(2)からのデータを全体的な座標系に関係付けるために変換するように設計されていることを特徴とするシステム。

IPC (2件)：

G01B 11/24 , G01B 11/00

FI (2件)：

G01B 11/00 H , G01B 11/24 A

Fターム (37件)：

2F065AA01 , 2F065AA04 , 2F065AA06 , 2F065AA19 , 2F065AA20 , 2F065AA53 , 2F065AA56 , 2F065BB02 , 2F065BB05 , 2F065BB27 , 2F065DD19 , 2F065FF01 , 2F065FF02 , 2F065FF04 , 2F065FF09 , 2F065FF23 , 2F065FF41 , 2F065FF61 , 2F065GG04 , 2F065HH04 , 2F065JJ02 , 2F065JJ03 , 2F065JJ05 , 2F065JJ25 , 2F065JJ26 , 2F065LL04 , 2F065LL12 , 2F065LL62 , 2F065MM16 , 2F065PP04 , 2F065PP25 , 2F065QQ25 , 2F065QQ28 , 2F065QQ31 , 2F065RR07 , 2F065RR09 , 2F065RR10

引用特許：

審査官引用 (5件)

特表平6-501774
位置計測装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平7-325916 出願人：株式会社東芝
特表平6-501774

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