特許
J-GLOBAL ID:200903045177115494
マルチスポット光学走査システム
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
中島 淳 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-295141
公開番号(公開出願番号):特開平8-211706
出願日: 1995年11月14日
公開日(公表日): 1996年08月20日
要約:
【要約】【課題】 ラスタ出力スキャナ(ROS)における実質的にシステム共通の焦点深度を維持し、マルチスポットROSのライン分離を最大化する。【解決手段】 受光体の表面を露光するためのマルチスポット光学走査システムでは、少なくとも2つの光ビームから成る光源と受光体の表面との間の光路上には反射走査部材としてのポリゴンが配置され、さらに、該ポリゴンの光反射面に光ビームを配光させるためのプレスキャン光学系が配置される。該光ビームが受光体の表面に突き当たる前に、ポストスキャン光学系の光軸に対してテレセントリックな経路上に前記ポリゴンの光反射面から反射された光ビームを配置して、受光体の表面によって定義される焦点面に関してシステム共通の焦点深度を最大化する。
請求項(抜粋):
受光体の表面を露光するためのマルチスポット光学走査システムであって、少なくとも2つの高強度変調光ビームから成る光源と、表面に光反射面を有し、前記光源と受光体の表面との間の光路上に配置される反射走査部材と、前記反射走査部材の光反射面に該ビームを配向させるためのプレスキャン光学系であって、コリメータと、開口と、交差走査シリンダレンズとを有するプレスキャン光学系と、受光体の表面に突き当たる前に、ポストスキャン光学系の光軸に対してテレセントリックな経路上に、前記反射走査部材の光反射面から反射された光ビームを配置して、受光体の表面によって定義される焦点面に関してシステム共通焦点深度を最大化するための、ポストスキャン光学系であって、f-シータ走査レンズとウォブル補正要素を含む、ポストスキャン光学系と、を有する、マルチスポット光学走査システム。
IPC (3件):
G03G 15/04 111
, B41J 2/44
, G02B 26/10
引用特許:
審査官引用 (3件)
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マルチビーム走査光学系
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-214000
出願人:富士ゼロツクス株式会社
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特開平3-248114
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特開平4-283717
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