特許
J-GLOBAL ID：200903045393822901
太陽電池モジュールの検査方法
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-157360
公開番号（公開出願番号）：特開2004-363196
出願日： 2003年06月02日
公開日（公表日）： 2004年12月24日
要約：
【課題】太陽電池モジュール内部の接触不良箇所の有無及びその位置、程度を特定する簡便な方法を提供すること。【解決手段】プラス側及びマイナス側の出力端子を具備する太陽電池モジュールの検査方法において、太陽電池モジュールに一定の電圧をかけたり、一定の電流を流し、この時の電流値や電圧値を調べ、予め求めておいた値と較べることにより太陽電池モジュール内部の接触不良箇所の有無を検査する。さらに接触不良箇所のその位置、程度を特定する方法として、太陽電池モジュールの両出力端子にその極性とは逆の電圧を印加して接触不良箇所を発熱させて、この発熱状態を非接触温度計で観察する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
複数の太陽電池素子を直並列接続して成り、プラス側出力端子とマイナス側出力端子を具備する太陽電池モジュールであって、前記各太陽電池素子間及び太陽電池素子と両出力端子との電気的接続の良否を判別する太陽電池モジュールの検査方法において、前記太陽電池モジュールの前記両出力端子間に、定電流電源により逆電圧を印加して一定の電流を流し、上記両出力端子間の電圧値を計測し、さらにこの電圧値をあらかじめ規定した所定の電圧値と比較して、前記電気的接続の良否を判別する太陽電池モジュールの検査方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (4件)：
5F051AA02
, 5F051AA03
, 5F051AA05
, 5F051KA09
