特許
J-GLOBAL ID:200903045588249483
3次元形状検出装置、及び、撮像装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
足立 勉
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-297693
公開番号(公開出願番号):特開2005-069771
出願日: 2003年08月21日
公開日(公表日): 2005年03月17日
要約:
【課題】3次元形状検出装置において、3次元形状を検出するのに適さない状態で、3次元形状の検出動作が行われるのを防ぐことを目的とする。 【解決手段】 撮像装置1は、重力加速度センサ611により撮像角度演算部612で撮像装置1の撮像角度θpを検出し、状態判定部62で、撮像角度θpが規定角度θpaを超えたか判別し、規定角度θpaを超えていると、警報発生部633により警報器634で警報を鳴らし、ソレノイド駆動回路631によりソレノイド632でレーザー光70を遮断し、プロセッサ40で撮像処理を行わなくする。そして、規定角度θpaが、原稿が被写界深度内に収まる角度で、且つ、撮像装置1が出射するスリット光が水平より上を向かない角度であるため、周囲の人に対してスリット光を照射することなく良好な画像を得ることができる。【選択図】 図4
請求項(抜粋):
所定形状の光束であるパターン光を生成して出射するパターン光出射手段と、
該パターン光出射手段に対して一定距離離れた位置に配置され、該パターン光出射手段からのパターン光の出射方向に位置する対象物体の画像を撮像する撮像手段と、
該撮像手段にて撮像された画像に基づき、前記対象物体に投光されたパターン光の位置を算出して、前記対象物体の3次元形状を求める演算手段と、
を備えた3次元形状検出装置において、
当該3次元形状検出装置の所定箇所の状態を検出する状態検出手段と、
該状態検出手段による検出結果に基づき、当該3次元形状検出装置の状態が、前記対象物体の3次元形状を検出するのに適した状態になっているか否かを判断する状態判定手段と、
該状態判定手段にて当該3次元形状検出装置が、前記対象物体の3次元形状を検出するのに適さない状態になっていると判断されると、当該3次元形状検出装置による3次元形状の検出動作を抑制する検出動作抑制手段と、
を備えたことを特徴とする3次元形状検出装置。
IPC (2件):
FI (2件):
G01B11/24 K
, G01B11/24 E
Fターム (27件):
2F065AA04
, 2F065AA37
, 2F065AA53
, 2F065CC02
, 2F065EE08
, 2F065FF01
, 2F065FF02
, 2F065FF09
, 2F065FF65
, 2F065GG06
, 2F065GG22
, 2F065HH05
, 2F065JJ03
, 2F065JJ26
, 2F065LL04
, 2F065LL08
, 2F065LL12
, 2F065LL30
, 2F065NN01
, 2F065PP05
, 2F065PP22
, 2F065QQ00
, 2F065QQ17
, 2F065QQ23
, 2F065QQ24
, 2F065QQ25
, 2F065SS09
引用特許:
出願人引用 (1件)
-
カメラ
公報種別:公開公報
出願番号:特願2002-160274
出願人:松下電器産業株式会社
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