特許
J-GLOBAL ID：200903045623397172
自動切り換え・自動良/否判定方式カーブトレーサシステム
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
筒井 大和
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-216365
公開番号（公開出願番号）：特開平9-061489
出願日： 1995年08月24日
公開日（公表日）： 1997年03月07日
要約：
【要約】【目的】 単純作業による測定ミス、観測見逃しを防止し、測定観測が熟練を必要とせず、LSIなどの多ピン電気部品の電気特性を自動的に測定観測し、良/否判定を確実に行うことができるカーブトレーサシステムを提供する。【構成】 自動切り換え・自動良/否判定方式のカーブトレーサシステムであって、専用ソフトウェアによるコンピュータ1と、自動良/否判定方式カーブトレース機能を実現する回路2と、回路2などを含むピンセレクター3と、ピンセレクター3に結合されて一対のソケットを持つソケット板4と、ソケット板4に装着される電気部品としての標準サンプル5および試験サンプル6と、半導体製品の2端子間の電気特性を測定する専用カーブトレーサ7とから構成され、電気部品の端子が切り換えられて専用カーブトレーサ7またはコンピュータ1上でのカーブトレーサ機能によって特性測定が行われる。
請求項（抜粋）：
電気部品の特性を自動切り換えにより測定して自動的に良/否判定を行うカーブトレーサシステムであって、半導体製品の2端子間の電気特性を測定するカーブトレーサと、コンピュータおよび専用ソフトウェアによって切り換え制御されるピンセレクターと、一対の標準用と試験用の電気部品ソケットが搭載されているソケット板とが備えられ、前記ソケット板の標準用電気部品ソケットに装着された標準用電気部品の端子、および前記試験用電気部品ソケットに装着された試験用電気部品の端子を前記ピンセレクターにより切り換え、前記標準用電気部品の測定情報と、前記試験用電気部品の測定情報とを前記カーブトレーサにより観測して良/否判定を行うことを特徴とする自動切り換え・自動良/否判定方式カーブトレーサシステム。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01R 31/26 G
, G01R 31/28 H
