特許
J-GLOBAL ID:200903045712267460

半導体記憶装置におけるエラー検出,訂正方式

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 京本 直樹 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-120400
公開番号(公開出願番号):特開平10-312340
出願日: 1997年05月12日
公開日(公表日): 1998年11月24日
要約:
【要約】【課題】LSI再作等のハードウェア改造を必要とせず、訂正可能なバイトの組み合わせを同一RAM内だけでなく異なったRAM間においても可能とするとともに、エラー検出,訂正方式のパターンを選択できるエラー検出,訂正方式を提供することを目的とする。【解決手段】SbECコード等の複数種類のエラー検出,訂正コードのそれぞれに対応する複数のエラー検出,訂正回路を有し、前記RAMの一部に故障が発生した場合にこれを記憶して次回システム立ち上げ時に前記故障発生時に使用していたエラー検出,訂正回路とは別のエラー検出,訂正回路を選択,使用し、訂正可能なデータブロック内のデータの組み合わせを同一RAM内だけでなく異なったRAM間においても可能とすることを特徴とする。
請求項(抜粋):
記憶素子としてRAMを使用し、誤り訂正符号によるデータのエラー検出,訂正機能を備える半導体記憶装置におけるエラー検出,訂正方式であって、SbECコード等の複数種類のエラー検出,訂正コードのそれぞれに対応するエラー検出,訂正回路を有し、前記複数のエラー検出,訂正回路を選択して使用することを特徴とする半導体記憶装置におけるエラー検出,訂正方式。
IPC (3件):
G06F 12/16 320 ,  G06F 12/16 310 ,  G11C 29/00 631
FI (3件):
G06F 12/16 320 F ,  G06F 12/16 310 Q ,  G11C 29/00 631 Z
引用特許:
審査官引用 (3件)

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