特許
J-GLOBAL ID：200903045736610930

組合せ計量装置

発明者：
越智 敏雄

越智 敏雄 について


出願人/特許権者：
大和製衡株式会社

大和製衡株式会社 について


代理人 (3件)： 角田 嘉宏 ,  古川 安航 ,  西谷 俊男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-045196
公開番号（公開出願番号）：特開2006-234395
出願日： 2005年02月22日
公開日（公表日）： 2006年09月07日
要約：
【課題】 任意の原因による計量効率の低下の程度を明らかにする組合せ計量装置を提供する。【解決手段】 物品を複数のグループに分けて計量する処理と、計量されたグループの合計重量が所定重量範囲内となる組合せを選択する処理と、組合せに選ばれたグループの物品を排出する処理とからなる一連の処理が繰り返される際、制御部16は、計量効率を低下させている複数の原因のそれぞれに対応する複数の状態のうちのいずれか1つの状態が一連の処理中に発生し、その状態に対応する追加処理が加わることによる超過時間を求め、一連の処理が所定回数繰り返されるたびに、所定回数行うのに要した実際の時間に対する理想時間の割合を計量効率として算出するとともに、全ての超過時間の総計に対する各原因に対応する超過時間の合計の割合を各原因に対応する妨害率として算出する。操作設定表示器17は、算出された計量効率と各原因に対応する妨害率とを表示する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
被供給部に供給される物品を複数のグループに分けて計量する処理と、計量された前記グループの物品の重量値を組合せて合計重量が所定重量範囲内である組合せを1つ求める組合せ演算を行う処理と、前記組合せに選ばれたグループの物品を排出する処理とからなる一連の処理を所定時間で繰り返す組合せ計量装置であって、 予め想定されている計量効率を低下させる複数の原因のそれぞれに対応する複数の状態のうちのいずれか1つの状態が前記一連の処理中に発生し、前記発生した状態に対応する追加処理が前記一連の処理中に加わることによって前記一連の処理の開始から終了までの実際の処理時間が前記所定時間を超過するたびに、前記実際の処理時間が前記所定時間を超過した超過時間を求め、前記超過時間を前記発生した状態に対応する原因と対応づける超過時間導出手段と、 前記一連の処理が所定回数繰り返されるたびに、前記一連の処理が前記所定回数行われた実際の時間に対する、前記一連の処理が全て前記所定時間で前記所定回数行われる場合の理想時間の割合を計量効率として算出する計量効率算出手段と、 前記一連の処理が前記所定回数繰り返されるたびに、その間に前記超過時間導出手段で求められている全ての原因に対応する前記超過時間の総計に対する、各々の原因に対応する前記超過時間の合計の割合を、各々の原因に対応する妨害率として算出する妨害率算出手段と、 前記計量効率算出手段で算出された前記計量効率と、前記妨害率算出手段で算出された各々の原因に対応する前記妨害率とを出力する出力手段とを備えた組合せ計量装置。
IPC (2件)：
G01G 19/387 ,  G01G 23/01
FI (2件)：
G01G19/387 Z ,  G01G23/01 Z
引用特許：
出願人引用 (6件)
全件表示
審査官引用 (4件)
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM