特許
J-GLOBAL ID：200903045824588189

レーザー利用測定器の反射戻り光低下装置

発明者：
高橋知隆

高橋知隆 について


出願人/特許権者：
グラフテック株式会社

グラフテック株式会社 について


公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-120908
公開番号（公開出願番号）：特開平8-292087
出願日： 1995年04月21日
公開日（公表日）： 1996年11月05日
要約：
【要約】【目的】 測定対象等からの反射光がレーザー光源に戻ることにより生じるモードフリップ現象を防止する。【構成】 異方ブラッグ回折を利用した音響光学素子を用いてレーザー光源への反射戻り光を低減し、また測定対象への照射レーザー光自体を制限し反射戻り光の絶対量を小さくすることができる。
請求項（抜粋）：
測定対象に向けてレーザー光源からレーザー光を照射して該測定対象の性質または状態に基づき該レーザー光が変化するようになし、該レーザー光を光電気変換器で電気信号に変換するようにしたレーザー利用測定器において、上記レーザー光の測定対象からの反射レーザー光が上記レーザー光源に戻る反射戻り光を低減するため、周波数シフタとして動作する音響光学素子を異方ブラッグ回折を利用したものとし、上記レーザー光源からのレーザー光を該異方ブラッグ回折利用音響光学素子を介して測定対象に照射するレーザー光照射手段を設けたことを特徴とするレーザー利用測定器。
引用特許：
審査官引用 (2件)

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