特許
J-GLOBAL ID:200903046051536083

X線診断装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 鈴江 武彦 (外6名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-097116
公開番号(公開出願番号):特開2001-340321
出願日: 2001年03月29日
公開日(公表日): 2001年12月11日
要約:
【要約】【課題】 X線絞りの影響を受けず、また、検査部位に応じた適切な輝度制御処理を容易に実行することができるX線診断装置を提供すること。【解決手段】 X線絞り装置の絞りに関する位置情報に基づいて、当該透視画像がX線絞りによって影響を受ける領域を把握する。この影響を受ける領域と、X線透視画像の第1の輝度計測領域(関心領域)とが重なるか否かを判別し、重ならない場合には第1の輝度計測領域に基づいて自動輝度制御を実行する。また、重なる場合には、第1の輝度計測領域を変形し、上記影響を受ける領域と重ならない第2の自動輝度計測領域を基準として自動輝度制御を実行する。
請求項(抜粋):
被検体に対して所定のX線条件でX線を曝射するX線発生手段と、前記X線の曝射領域を限定する絞り手段と、前記被検体の体内を透過したX線に基づいて所定サイズの画像を生成する生成手段と、前記画像中の所定領域に関する輝度を計算する輝度計算手段と、前記輝度に基づいてX線条件を決定し、当該X線条件を前記X線発生手段にフィードバック制御する制御手段と、前記画像中において、前記絞り手段の影響を受けた領域と前記所定領域とが重なるか否かを判別する判別手段と、を具備し、前記判別手段が重なると判別した場合、前記輝度計算手段は、前記所定領域を前記絞り手段の影響を受けた領域とは重ならない他の領域に変形し、当該他の領域に基づいて輝度を計算し、前記制御手段は、前記他の領域に関する輝度に基づいて他のX線条件を決定し、当該他のX線条件を前記X線発生手段にフィードバック制御すること、を特徴とするX線診断装置。
IPC (4件):
A61B 6/00 ,  A61B 6/00 320 ,  A61B 6/06 300 ,  H05G 1/64
FI (4件):
A61B 6/00 320 Z ,  A61B 6/06 300 ,  H05G 1/64 E ,  A61B 6/00 350 D
引用特許:
出願人引用 (5件)
  • X線TVシステム
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平8-069219   出願人:株式会社島津製作所
  • 1次ダイヤフラム装置を含むX線装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平10-012624   出願人:フィリップスエレクトロニクスネムローゼフェンノートシャップ
  • X線装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平9-119102   出願人:株式会社日立メディコ
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審査官引用 (5件)
  • 1次ダイヤフラム装置を含むX線装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平10-012624   出願人:フィリップスエレクトロニクスネムローゼフェンノートシャップ
  • X線TVシステム
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平8-069219   出願人:株式会社島津製作所
  • X線装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平9-119102   出願人:株式会社日立メディコ
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