特許

J-GLOBAL ID：200903046285762265

3次元計測装置及び3次元計測方法

発明者： 田崎 陽一 ,  鶴田 秀紀
出願人/特許権者： 三菱重工業株式会社
代理人 (1件)： 光石 俊郎 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-191262
公開番号（公開出願番号）：特開2000-028332
出願日： 1998年07月07日
公開日（公表日）： 2000年01月28日
要約：

【要約】【課題】 ターゲットレスでの計測を高精度で短時間に実現し、高所作業の回避や計測作業の合理化及び各種評価システムへの連結を容易とすることにある。【解決手段】 計測対象物1に設定される複数の計測点の3次元座標値を非接触かつ遠隔より自動計測する装置であって、異なる2地点A,Bから前記計測点を含む画像をそれぞれ撮影すると共に撮影方向をそれぞれ検出する画像計測機器6と、前記画像計測機器6により撮影された複数の画像及び前記撮影方向を蓄積する画像蓄積機器7と、前記画像蓄積機器7に蓄積された複数の画像内での計測点位置と、前記画像蓄積機器に蓄積された複数の撮影方向とに基づいて、前記複数の計測点への方向ベクトルを算出し、当該ベクトルの交点として前記複数の計測点の3次元座標値を検出する画像解析機器9とを備えたことを特徴とする。

請求項（抜粋）：

計測対象物に設定される複数の計測点の3次元座標値を非接触かつ遠隔より自動計測する装置であって、異なる2地点から前記計測点を含む画像をそれぞれ撮影すると共に撮影方向をそれぞれ検出する画像計測機器と、前記画像計測機器により撮影された複数の画像及び前記撮影方向を蓄積する画像蓄積機器と、前記画像蓄積機器に蓄積された複数の画像内での計測点位置と、前記画像蓄積機器に蓄積された複数の撮影方向とに基づいて、前記複数の計測点への方向ベクトルを算出し、当該ベクトルの交点として前記複数の計測点の3次元座標値を検出する画像解析機器とを備えたことを特徴とする3次元計測装置。

IPC (5件)：

G01B 11/24 ,  G01C 1/02 ,  G01C 3/06 ,  G01C 11/00 ,  G06T 7/00

FI (5件)：

G01B 11/24 C ,  G01C 1/02 L ,  G01C 3/06 V ,  G01C 11/00 ,  G06F 15/62 415

Fターム (26件)：

2F065AA04 ,  2F065CC00 ,  2F065CC14 ,  2F065DD00 ,  2F065FF01 ,  2F065FF04 ,  2F065FF09 ,  2F065FF25 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ26 ,  2F065MM22 ,  2F065PP04 ,  2F065QQ31 ,  2F065UU05 ,  2F112AC02 ,  2F112AC06 ,  2F112BA02 ,  2F112CA12 ,  2F112CA20 ,  2F112DA40 ,  2F112FA03 ,  5B057CH11 ,  5B057DA07 ,  5B057DB03 ,  5B057DC08

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 3次元位置計測装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-172352   出願人：株式会社東芝