特許
J-GLOBAL ID：200903046311582858
材料試験機
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
永井 冬紀
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-117266
公開番号（公開出願番号）：特開平8-313421
出願日： 1995年05月16日
公開日（公表日）： 1996年11月29日
要約：
【要約】【目的】 材料試験結果のサンプリングを効率よく行う。【構成】 材料試験機において、データ処理装置20は、サンプリング周期、RAMカード18の容量、およびサンプリングデータ長に基づいて、短いサンプリング周期Tsでサンプリングするデータ数Ndを演算する。計測装置10は、データ数Ndに達するまで短いサンプリング周期Tsで試験結果をサンプリングし、その結果をRAMカード18に格納する。また、サンプリング周期Tsよりも長いサンプリング周期でサンプリングした結果をデータ処理装置20に伝送する。試料が破断した時点で試験を終了し、計測装置10はRAMカード18に格納されているサンプリングデータをデータ処理装置20に伝送し、データ処理装置20はRAMカード18およびRAM23に格納されている各サンプリングデータとを重複データを含まないように合成する。
請求項（抜粋）：
計測装置とデータ処理装置とを備え、前記計測装置側で所定のサンプリング周期で各種データの採取を行うと同時に、採取したデータを所定の時間間隔ごとにデータ処理装置に伝送する材料試験機において、前記計測装置側に設けられ前記所定のサンプリング周期で採取した各種データを記憶する記憶手段と、サンプリング1回当たりのデータ長、前記記憶装置の記憶容量、および前記サンプリング周期の長さに基づいて、前記記憶手段に記憶するデータ数を演算するデータ総数演算手段とを備え、前記計測装置は、前記記憶手段に記憶されたデータ数が前記演算されたデータ数に達するまで、前記所定のサンプリング周期で各種データの採取を行うことを特徴とする材料試験機。
IPC (2件)：
FI (2件)：
引用特許：
審査官引用 (1件)
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材料試験機
公報種別：公開公報
出願番号：特願平5-122277
出願人：株式会社島津製作所
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