特許
J-GLOBAL ID：200903046522512899

パターン認識装置、パターン認識方法

発明者：
横井 謙太朗

横井 謙太朗 について


出願人/特許権者：
株式会社東芝

株式会社東芝 について


代理人 (1件)： 堀口 浩
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-308933
公開番号（公開出願番号）：特開2006-155594
出願日： 2005年10月24日
公開日（公表日）： 2006年06月15日
要約：
【課題】 位置ズレのあるパターンに対する認識処理を高精度に行う。【解決手段】 特徴量抽出部101は入力された画像の特徴量ベクトルを抽出し、確率分布算出部103は算出対象範囲設定部102により設定された特徴量ベクトルの確率分布を算出対象範囲内で特徴量ベクトルの分布を算出し、確率分布記憶部104は確率分布を学習対象の識別子と関連付けて記憶する。事後確率算出部105は認識対象の画像から求められた特徴量ベクトルと確率分布記憶部104に記憶された学習対象の確率分布とを用いて、認識対象が学習対象の各々に該当する確率である事後確率を算出し、事後確率比較部106は求められた事後確率を比較して認識対象の認識結果を出力する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
学習対象の画像および認識対象の画像を入力する画像入力部と、 前記学習対象および前記認識対象に関して入力された前記画像の各々の特徴量ベクトルを算出する特徴量ベクトル算出部と、 前記学習対象の各々に関する前記特徴量ベクトルの確率分布の、特徴量ベクトル空間内における算出対象範囲を設定する算出対象範囲設定部と、 前記学習対象の各々の前記確率分布を、前記算出対象範囲内で算出する確率分布算出部と、 前記学習対象の各々の識別子、および、前記学習対象の各々の前記確率分布を関連付けて記憶する確率分布記憶部と、 前記認識対象について算出された特徴量ベクトル、および、前記確率分布記憶部に記憶された確率分布を用いて、前記認識対象が前記学習対象の各々と対応する確率である事後確率を算出する事後確率算出部と、 前記事後確率に基づいて前記認識対象の認識を行う認識部と、 を備えるパターン認識装置。
IPC (1件)：
G06T 7/00
FI (1件)：
G06T7/00 300F
Fターム (10件)：
5L096FA32 ,  5L096FA35 ,  5L096FA62 ,  5L096FA66 ,  5L096GA30 ,  5L096HA09 ,  5L096JA11 ,  5L096JA22 ,  5L096KA04 ,  5L096MA07
引用特許：
出願人引用 (8件)
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審査官引用 (6件)
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