特許
J-GLOBAL ID:200903046573957143

地盤調査装置および地盤調査方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 永井 義久
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-049131
公開番号(公開出願番号):特開平9-242459
出願日: 1996年03月06日
公開日(公表日): 1997年09月16日
要約:
【要約】【課題】削孔パラメーターによる地盤調査装置において、視認的に地質種別の確定的判断ができるようにするとともに、各パラメータおよび合成パラメータと地質情報との関連付けができるようにする。【解決手段】削孔機1に対して各種センサー類21〜24を取付け、これらセンサー類21〜24により削孔時のデータを測定するとともに、これらのデータをコンピューターにより解析処理することによって地盤の分類、硬軟等の地盤情報を得る掘削パラメーターによる地盤調査装置において、前記削孔機1の削孔ロッド12に対してワイヤーライン式コアサンプラー2、4を取付ける。
請求項(抜粋):
削孔機に対して各種センサー類を取付け、これらセンサー類により削孔時のデータを測定するとともに、これらのデータをコンピューターにより解析処理することによって地盤の分類、硬軟等の地盤情報を得る掘削パラメーターによる地盤調査装置において、前記削孔機の削孔ロッドに対してコアサンプラーを取付けたことを特徴とする地盤調査装置。
IPC (3件):
E21B 49/00 ,  E21B 25/00 ,  G01N 1/08
FI (3件):
E21B 49/00 ,  E21B 25/00 ,  G01N 1/08 C
引用特許:
審査官引用 (2件)

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