特許

J-GLOBAL ID：200903046693867024

異物検査装置

発明者： 木村 隆
出願人/特許権者： 株式会社イシダ
代理人 (1件)： 中村 雅典
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-112373
公開番号（公開出願番号）：特開2008-268035
出願日： 2007年04月20日
公開日（公表日）： 2008年11月06日
要約：

【課題】 アルミ蒸着フィルム等の包装材を使用する製品とそうでない製品が混流する製造ラインで、製品への混入異物を確実に検出する。【解決手段】 金属検出機と、その下流側に設けられ、物品に照射されたX線を受光してX線画像を生成し、該X線画像の構成画素の濃度分布を解析して、異物を検出するX線異物検出機と、を備え、金属検出機による検出結果に応じて、濃度分布の解析を行う濃度領域を自動的に設定することを特徴とする。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

物品に含まれる金属を検出する金属検出機と、 該金属検出機の下流側に設けられ、物品にX線を照射するとともに該照射されたX線を受光し、該受光したX線に基づいてX線画像を生成し、該X線画像を構成する画素の濃度分布を解析することにより、物品に混入した異物を検出するX線異物検出機と、を備え、 前記金属検出機による検出結果に応じて、前記濃度分布の解析が行われる濃度領域を自動的に設定することを特徴とする異物検査装置。

IPC (2件)：

G01N 23/04 ,  G01N 27/72

FI (2件)：

G01N23/04 ,  G01N27/72

Fターム (32件)：

2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA08 ,  2G001GA03 ,  2G001GA04 ,  2G001HA07 ,  2G001HA13 ,  2G001JA09 ,  2G001JA13 ,  2G001JA16 ,  2G001KA01 ,  2G001KA05 ,  2G001LA01 ,  2G001NA17 ,  2G001NA21 ,  2G001PA03 ,  2G001PA11 ,  2G001SA13 ,  2G053AA02 ,  2G053AA13 ,  2G053BA02 ,  2G053BB02 ,  2G053BB11 ,  2G053BC02 ,  2G053BC14 ,  2G053CA03 ,  2G053CB14 ,  2G053DA06 ,  2G053DA09 ,  2G053DB05 ,  2G053DB07

引用特許：

出願人引用 (1件)

• X線異物検出方法及びX線異物検出装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2002-184754   出願人：アンリツ産機システム株式会社